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HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 配電箱多回路溫升測試儀HNDL 三相大電流發生器 容量大 定製定做
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。為了同時實現多通道和高速采集,橫河SMARTDAC+係列采集器采用了各模塊立A/D的硬件設計,各模塊間的數據采集並行處理,而主機CPU負責所有通道的數據保存和上位通信,從而可以保證5ms*1ch的係統性能。靈活的信號輸入在研究和設計開發領域使用的記錄儀,需要根據實驗目的記錄從傳感器或者從電壓/電流源得到的信號。因此需要對應溫度傳感器和電壓量程。可拆卸端子另外,多點測試有大量接線的工作,為了提高接線的作業效率,可以選擇端子可拆卸的產品。
1.2 技術參數要求
恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續可調
工作時間:大電流輸出不少於24小時
輸出相數:三相 多路
可控矽檢測方案電控係統長時間運行後,電發動機會出現跳閘等故障。基於此,對可控矽性能好壞進行檢測,對於係統的日常維護、保證正常運轉具有十分重要的意義。通常對電氣設備的檢測設備及方法有萬用表、漏電儀、搖表,另外,還可以利用示波器觀測導通電流以判斷可控矽導通情況。在實際生產中,僅采用萬用表無法判斷可控矽的故障。下麵對幾種檢測方法進行對比,以得出可控矽檢測的方法。漏電儀檢測法(耐壓試驗)采用大電流發生器(簡稱升流器)對可控矽K兩極之間進行漏電試驗。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調節器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調節器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調節器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調節器 |
1 |
