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  • 產品名稱：JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修

  • 產品型號：HNDL
  • 產品廠商：華能
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簡單介紹：
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修
詳情介紹：

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修 

JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。大數據、挖掘和應用仍需進一步研究利用和推廣。，互操作技術方案複雜。網絡部署完成以後，23G和4G網絡將長期並存，考慮到4G網絡的覆蓋逐步完善，因此網絡部署必須考慮網絡間的互操作。蜂窩係統既要支持4G係統內互操作(LTEFDD和TD-LTE混合組網)，同時也要支持4G與2G/3G的互操作。由於3G和2G係統的性，4G與2G/3G係統互操作麵臨著較多的技術難題，如移動推動的語音解決方案CSFB至GSM與國外主流運營商語音解決方案存在較大區彆，電信TD-LTE與CDMA係統之間的互操作更是冇有先例，VoLTE與2G/3G的切換流程比較複雜，同時FDD和TD-LTE混合組網技術上也需要進一步完善。

JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

瑞利散射是光纖材料本身固有的性質，由於光纖內部含有的雜質、纖核添加物等產生漫反射，其中部分向後散射形成瑞利背向散射，光纖整個長度上都呈現這種現象。而菲涅爾反射它隻是發生在光纖接觸到空氣時或發生在諸如機械的連接接縫處。光纖損耗的測量所依據的主要是瑞利散射原理;光纖斷點的測量所依據的主要原理是菲涅爾反射。瑞利散射損耗可用下式進行近似計算：式中，λ以um為單位，B是與石英和摻雜材料有關的常數。JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

序號

名稱

數量

1

3回路三相0-100A電流調節器

1

2

3回路三相0-400A電流調節器

1

3

3回路三相0-630A電流調節器

1

4

3回路三相0-800A電流調節器

1

JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修接觸式的測試方法中測溫元件直接與被測介質接觸，直接測得被測物體的溫度，因而簡單、可靠、測量精度高。經常用到的如所示：.功能單一的測溫儀產品的溫升試驗也是安規要求的一個重要部分，那麼我們在設計一款產品時，如何實現經濟而且便捷的測量呢?開關電源中MOSFET和二極管會產生開關損耗以及傳導損耗、電感損耗包括線圈損耗和磁芯損耗、電容等造成的損耗，這些損耗終都以熱的形式展現出來，而過熱又會降低元器件性能導致損耗加劇，所以了解無用功率損失在哪裡很重要。JP櫃多回路溫升試驗係統HNDL 直流試驗電源 容量大 5年保修


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