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HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 三回路配電箱溫升試驗係統HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。考慮到5G將分階段部署,第1階段非立組網(NSA),5G與現有的3G/4G業務之間存在互通的需求。前傳網絡需要支持采用通用公共無線電接口(CPRI)的2G/3G/4G業務和采用下一代前傳接口(eCPRI/NGFI)的5G業務。前傳的方案目前看還是以光層為主,可以采用光纖直驅、無源WDM、N×10Gbit/s、N×100Gbit/s波分等。ITU目前也在討論采用簡化的OTN,增加25G/50GOTN接口用於前傳網絡,提供必要的性能監測和保護等。
1.2 技術參數要求
恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續可調
工作時間:大電流輸出不少於24小時
輸出相數:三相 多路
20世紀80年始,非製冷紅外焦平麵陣列探測器在美國支持下發展起來的,在1992年研發完成後才對布。初期技術路線包括德州儀器研製的BST熱釋電探測器和霍尼韋爾研製的氧化釩(VOx)微測輻射熱計探測器。後來由於熱釋電技術本身的一些局限性,微測輻射熱計探測器逐漸勝出。2009年,L-3公司終宣布停止繼續生產熱釋電探測器。之後,法國的CEA/LETI以及德州儀器公司又分彆研製了非晶矽(a-Si)微測輻射熱計探測器。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調節器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調節器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調節器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調節器 |
1 |
