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HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 JP櫃溫升試驗係統HNDL 直流溫升試驗裝置 容量大 5年保修
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。因為傳統的線纜如BNC或SMA線纜本身是可導電的而且容易受到來自於乾擾室內部的電磁波的影響,因此光發送和接收單元以及光纖需要被用來將乾擾室內部的ECU發出的信號傳送到位於乾擾室外部的測試設備。光纖是非導體所以不會受到乾擾室內的電磁場的影響。為了將線纜從乾擾室內部連接到測試設備上,在乾擾室邊界處波導管被用來輸出光信號,從而允許乾擾室在將ECU的信號輸出時仍舊保持完全的封閉。光纖波導擁有一個高通截止頻率,該頻率高於在乾擾室中測試的頻率範圍,因此不會對乾擾室中所創造的環境產生乾擾。
1.2 技術參數要求
恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續可調
工作時間:大電流輸出不少於24小時
輸出相數:三相 多路
利用RFID技術的無源傳感器標簽功能元件芯片和傳感器標簽幸運的是,有多種集成度更高的無源感測和優化選擇。其中有RF430FRL152H,它集成了實現圖1所示功能所需的所有電路,包括用於連接到模擬傳感器的14位三角積分AD以及可用於連接數字傳感器的SPI/I2C端口。RF430FRL15xH帶有通過鐵電RAM(FRAM)實現的2KB非易失性存儲器,實現了低功耗、快速讀寫速度、無限次讀/寫耐久性和高電磁抗擾度綜合優勢。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調節器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調節器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調節器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調節器 |
1 |
