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  • 產品名稱：三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修

  • 產品型號：HNDL
  • 產品廠商：華能
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簡單介紹：
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修
詳情介紹：

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修 

三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。為了解決這個問題，必須製定一係列的內部接口標準，否則行業將成為碎片化的產業。2003年，由ARM,Nokia,ST,TI等公司聯合成立了一個聯盟——MIPI是，目的就是是把內部的接口如攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口等標準化，從而減少設計的複雜程度和增加設計靈活性。MIPI聯盟下麵有不同的WorkGroup，分彆定義了一係列的內部接口標準，比如攝像頭接口CS顯示接口DS射頻接口DigR麥克風/喇叭接口SLIMbus等。

三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

無論是實驗室環境還是生產車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰略重點。我們正在擴展我們的軟件平台和PXI功能，以幫助芯片製造商應對他們麵臨的挑戰，這一點通過NI的PXISMU可以完全體現出來。”由於其高吞吐量、高性價比和占地麵積小，NI的半導體測試係統(STS)正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的並行性，以及在生產中提供實驗室級彆的測量質量。三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

序號

名稱

數量

1

3回路三相0-100A電流調節器

1

2

3回路三相0-400A電流調節器

1

3

3回路三相0-630A電流調節器

1

4

3回路三相0-800A電流調節器

1

三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修同時也具有更高的**性和可靠性，尤其是EMC特性的傳導擾、輻射擾和ESD靜電放電等性能上也更好一些，且在係統中可輕鬆完成輸出接線，而不與主接地發生衝突。儀器儀表如何實現電源隔離目前業界電源隔離方案主要有兩種：一種是使用變壓器磁隔離+光耦光電隔離組合實現初級側與次級側之間的電氣隔離。這種方式，電路簡單成熟普遍，較容易實現，能實現高輸出電壓精度、線性調整率和負載調整率性能，滿足目前電子產品的高性能要求。三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修


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