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  • 產品名稱：配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修

  • 產品型號：HNDL
  • 產品廠商：華能
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簡單介紹：
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修
詳情介紹：

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修 

配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。推理機隻負責診斷推理，測試則由測試係統完成。與傳統的診斷和測試融合在一起不同，診斷模塊（IEEE1232推理機）在不同測試係統間是可互換的。在故障樹時，依照IEEE1232標準生成可交換的診斷信息文件，診斷知識將在不同測試係統間共享。通過嚴格按標準實施推理機的通信接口，就可以實現診斷模塊的移植，達到測試與診斷的分離。參考IEEE1232標準,TestCenter開發了故障診斷子係統，如所示，TestCenter故障診斷由三部分組成：診斷模型製作器、診斷推理機和診斷程序。

配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

可控矽檢測方案電控係統長時間運行後，電發動機會出現跳閘等故障。基於此，對可控矽性能好壞進行檢測，對於係統的日常維護、保證正常運轉具有十分重要的意義。通常對電氣設備的檢測設備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測導通電流以判斷可控矽導通情況。在實際生產中，僅采用萬用表無法判斷可控矽的故障。下麵對幾種檢測方法進行對比，以得出可控矽檢測的方法。漏電儀檢測法（耐壓試驗）采用大電流發生器（簡稱升流器）對可控矽K兩極之間進行漏電試驗。配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

序號

名稱

數量

1

3回路三相0-100A電流調節器

1

2

3回路三相0-400A電流調節器

1

3

3回路三相0-630A電流調節器

1

4

3回路三相0-800A電流調節器

1

配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修係統設計人員正麵臨越來越多的挑戰，他們需要在不降低係統組件(：高速數據轉換器)性能的情況下讓其設計程度地節能。設計人員們可能會轉而采用許多電池供電的應用(：某種手持終端、軟件無線設備或便攜式超聲波掃描儀)，也可能會縮小產品的外形尺寸，從而需要尋求減少發熱的諸多方法。降低係統功耗的一種方法是對高速數據轉換器的電源進行優化。數據轉換器設計和工藝技術的一些進展，讓許多新型ADC可以直接由開關電源來驅動，從而達到化功效的目的。配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流試驗裝置 容量大 5年保修


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