產品名稱：配電箱溫升試驗係統HNDL 斷路器溫升試驗設備 容量大 定製定做

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 配電箱溫升試驗係統HNDL 斷路器溫升試驗設備 容量大 定製定做 

聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。在災難麵前，紅外熱成像到底能發揮怎樣的作用?產品方案資料紅外熱成像儀，可應對嚴峻的室外環境，防塵防風防雨防，大大降低了誤報的可能性，配合預警軟件平台，一旦探測到有人或車輛等企圖侵入，就會立刻報警。嵌入式智能技術的監控跟蹤係統，可以用到它所具有入侵檢測和自動跟蹤功能模塊，使邊界入侵防範的問題得以解決，內置功能強大的報警模塊，性能可靠，降低誤報率。紅外熱成像儀工作原理我們來了解下紅外熱像儀的工作原理，自然界中的一切物體，隻要其溫度高於零度(-273℃)，都能輻射電磁波，紅外線輻射是自然界存在的一種為廣泛的電磁波輻射，它是基於任何物體在常規環境下都會產生的自身的分子和原子無規則運動，並不停地輻射出熱紅外能量。

1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決於體摻雜，在器件中，電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導體範德堡法電阻率和霍爾電壓，進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量，一般會使用一個可編程開關，把電流源和電壓表切換到樣本的所有側。A-SCS參數儀擁有4個源測量單元(SMUs)和4個前置放大器(用於高電阻測量)，可以自動進行這些測量，而不需可編程開關。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）