產品名稱：JP櫃溫升試驗裝置HNDL 三相大電流發生器 容量大 30年經驗

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 JP櫃溫升試驗裝置HNDL 三相大電流發生器 容量大 30年經驗 

聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。CSP(ChipScalePACkage)：芯片級封裝，該方式相比BGA同等空間下可以將存儲容量提升三倍，是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage)：雙列直插式封裝，插裝型封裝之一，指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片，體積比較大。MCM(MultiChipModel)：多芯片模塊封裝，可根據基板材料分為MCM-L，MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage)：四側引腳扁平封裝，表麵貼裝型封裝之一，引腳通常在100以上，適合高頻應用，基材方麵有陶瓷、金屬和塑料三種。

1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

磁耦器件可提供5000Vrms/min及6000V/10sec的電壓隔離保護，多種型號的磁耦帶有±15KV的ESD保護。長壽命。采用芯片級變壓器技術傳輸信號，消除光耦傳輸時的器件損耗。器件內部基本不存在損耗，正常工作條件下至少達到50年工作壽命。低功耗。磁耦基於芯片級變壓器傳輸原理，信號傳輸時幾乎不存在能量損耗，因此能以極低的功耗實現高度的數據隔離。相同速率下，其功耗僅為光耦的1/10~1/6。電源隔離信號通道做隔離後，建議電源通道也做隔離，可直接采用帶隔離的DC-DC隔離模塊實現，如下圖所示。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃溫升試驗裝置HNDL 三相大電流發生器 容量大 30年經驗征能ES31多功能四線接地電阻測試儀具有：4線法接地電阻、土壤電阻率、接地電壓測量。USB接口，數據上傳功能，報警功能，數據存儲3組，接地電阻量程：.Ω～3.KΩ，土壤電阻率量程：.ΩM～9999KΩM電壓量程：～1V、測試頻率：128Hz等。以下是測量變壓器接地電阻的一個實例。要測量的變壓器打開征能ES31多功能四線接地電阻測試儀儀表箱、工具袋準備接線按下圖接線。16年，全天科技將重點推介可編程直流電源在汽車電子測試領域、電動領域、自動測試領域以及科研機構的應用。全天科技可編程直流電源，內置符合德國DIN4839標準的汽車電子引擎啟動測試波形，符合ISO1675-2標準的電壓中斷測試波形，為汽車電子行業提供解決方案。省去測試前繁瑣的編輯過程，同時，測試工程師可自行調整波形的設置參數，以便輸出不同測試等級下的波形。以下對內置的4種測試波形做進一步說明。