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HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 直流開關試驗電源 容量大 5年保修
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。測控技術是直接應用於生產生活的應用技術,它的應用涵蓋了“農輕重、海陸空、吃穿用”等社會生活各個領域。儀器儀表技術是國民經濟的“倍增器”,科學研究的“先行官”,**上的“戰鬥力”以及法製法規中的“物化法官”。計算機化的測試與控製技術以及智能化得精密測控儀器與係統是現代化工農業生產、科學技術研究、管理檢測監控等領域的重要標誌和手段,發揮著越來越重要的作用。測控技術與儀器儀表技術的應用測控技術是一門應用性技術,廣泛用於工業、農業、交通、航海、、**、電力和民用生活各個領域。
1.2 技術參數要求
恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續可調
工作時間:大電流輸出不少於24小時
輸出相數:三相 多路
另外,晶體管也可能產生相似的爆裂噪聲和閃爍噪聲,其產生機理與電阻中微粒的不連續性相近,也與晶體管的摻雜程度有關。半導體器件產生的散粒噪聲由於半導體PN結兩端勢壘區電壓的變化引起累積在此區域的電荷數量改變,從而顯現出電容效應。當外加正向電壓升高時,N區的電子和P區的空穴向耗儘區運動,相當於對電容充電。當正向電壓減小時,它又使電子和空穴遠離耗儘區,相當於電容放電。當外加反向電壓時,耗儘區的變化相反。當電流流經勢壘區時,這種變化會引起流過勢壘區的電生微小波動,從而產生電流噪聲。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調節器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調節器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調節器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調節器 |
1 |
