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  • 產品名稱：JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗

  • 產品型號：HNDL
  • 產品廠商：華能
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簡單介紹：
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗
詳情介紹：

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗 

JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。幾何形狀有多方麵的適應性，可構成任意形狀的光纖傳感器。傳輸頻帶寬。光纖的帶寬距離乘積為30MHz?km?10GHz?km。光纖傳感器無可動部分、無電源，是一個電氣無源係統。此外，光纖還有耐水性好、抗腐蝕性強、可高密度傳輸數據等優點。利用光纖能構成種類繁多的傳感器，故有人稱光纖傳感器是傳感器。它可測量許多物理量，應用範圍遍布**、民用、商業、醫學、工業控製等各個領域，如下表所列。表用光纖測量的物理量目前，已證明用光纖可構成檢測加速度、速度、位移、角加速度、角速度、角位移、壓力、彎曲、應變、轉矩、溫度、電壓、電流、液麵、流量、流速、濃度、PH值、磁、聲、光、射線等多種物理量的傳感器，這些傳感器與以電為基礎的傳統傳感器相比較，在測量原理上有本質的差彆。

JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

檢測內孔直線度時，將平麵反射鏡伸入孔內，利用脹套保證反射鏡與內孔垂直。當內孔有彎曲時反射鏡將偏轉一定的角度，通過反射鏡的偏轉角度可以計算出內孔的直線度。PSD芯片激光測量法激光器安裝在激光器座上，激光器座的尾部有4個螺釘可以對激光的照射角度進行微調。其頭部與定心套連接後插入炮管孔內。位置檢測單元的激光位敏傳感器安裝在傳感器座內，傳感器座的頭部與定心套連接，尾部與推杆連接。通過手動推動推杆可以使位置檢測單元在炮管內孔內移動。JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗


1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

序號

名稱

數量

1

3回路三相0-100A電流調節器

1

2

3回路三相0-400A電流調節器

1

3

3回路三相0-630A電流調節器

1

4

3回路三相0-800A電流調節器

1

JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗由P區引出的電極為陽極，由N區引出的電極為陰極，如下圖所示，溫度對二極管的性能有較大的影響，這是由於半導體材料的特性所致，溫度升高時，二極管的正向壓降將減小，每增加1oC，正向壓降減小約2mV，可以從下圖看出，由半導體理論可以得出，PN結所加端電壓u與流過它的電流i的關係為：其中，Is為反向飽和電流，對於矽材料來說，Is約為10pA;q為電子的電量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常數，k=1.38*10-23J/K；T為溫度，kT/q可以用UT來代替，則常溫下，即T=300K時，UT約為26mV。JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 直流溫升試驗設備 容量大 30年經驗


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