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HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 JP櫃多回路溫升測試儀HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 30年經驗
用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。電容種類繁雜,但無論再怎麼分類,其基本原理都是利用電容對交變信號呈低阻狀態。交變電流的頻率f越高,電容的阻抗就越低。旁路電容起的主要作用是給交流信號提供低阻抗的通路;去耦電容的主要功能是提供一個局部的直流電源給有源器件,以減少開關噪聲在板上的傳播和將噪聲引導到地,加入去耦電容後電壓的紋波乾擾會明顯減小;濾波電容常用於濾波電路中。對於理想的電容器來說,不考慮寄生電感和電阻的影響,那麼在電容設計上就冇有任何顧慮,電容的值越大越好。
1.2 技術參數要求
恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續可調
工作時間:大電流輸出不少於24小時
輸出相數:三相 多路
由P區引出的電極為陽極,由N區引出的電極為陰極,如下圖所示,溫度對二極管的性能有較大的影響,這是由於半導體材料的特性所致,溫度升高時,二極管的正向壓降將減小,每增加1oC,正向壓降減小約2mV,可以從下圖看出,由半導體理論可以得出,PN結所加端電壓u與流過它的電流i的關係為:其中,Is為反向飽和電流,對於矽材料來說,Is約為10pA;q為電子的電量,q=1.6*10-9C;k是玻耳茨曼常數,k=1.38*10-23J/K;T為溫度,kT/q可以用UT來代替,則常溫下,即T=300K時,UT約為26mV。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調節器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調節器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調節器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調節器 |
1 |
