產品名稱：單相大電流發生器 三相溫升試驗設備 交流溫升試驗係統 30年經驗

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統單相大電流發生器 三相溫升試驗設備 交流溫升試驗係統 30年經驗

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。擅長“小型化”的日本廠家過去，電子產品的進步主要是以半導體為中心的“小型化”的發展（也就是所謂的“摩爾定律”），同時附加很多功能。如今，電子產品的進步主要是體現在當今發展到頂點的智能、以智能手表（SmartWatch）為代表的可穿戴設備（WearableDevice）。這些產品都是通過電池驅動且具有較高的計算（Computing）功能，另外也具備攝像、運動（Motion）、氣壓、溫度等多個傳感器。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 由P區引出的電極為陽極，由N區引出的電極為陰極，如下圖所示，溫度對二極管的性能有較大的影響，這是由於半導體材料的特性所致，溫度升高時，二極管的正向壓降將減小，每增加1oC，正向壓降減小約2mV，可以從下圖看出，由半導體理論可以得出，PN結所加端電壓u與流過它的電流i的關係為：其中，Is為反向飽和電流，對於矽材料來說，Is約為10pA;q為電子的電量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常數，k=1.38*10-23J/K；T為溫度，kT/q可以用UT來代替，則常溫下，即T=300K時，UT約為26mV。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.新一代無源光網絡(PON)Tyndall光電子封裝小組研究經理Dr.LeeCarroll表示：“過去的十年見證了矽光子從出現到成為新一代信息通信技術應用媒介的發展過程。采用麵對麵疊加法（3D集成）在矽光子集成電路(Si-PIC)頂部安裝驅動器電子集成電路是一種基於光電子平台實現高速電子解調與分配的實用方案。Tyndall研究院目前正在研發用於高速家用光纖網絡連接的新一代無源光網絡(PON)演示模塊。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：此方法運行成本低、靈活便捷，通常用於裝備的前期開發過程中，偏重於對軟件算法的測試。然而由於逼真度低，與實際環境差異過大，對於正式裝備的性能測試僅具有參考作用，大多數場合無法作為終驗證手段。種測試方法是半實物模擬測試，此方法是在前兩種方法有機結合的基礎上發展而來的。它利用數據采集或數學建模的方法組建數字化複雜電磁環境信息數據庫，根據實際測試場景需求，計算波形數據，基於複雜信號發生技術，通過波形發生的方式產生實際電磁信號，人為構建高逼真度的複雜電磁環境，用於裝備性能測試。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。所述存儲所述第n個補償餘數具體包括：用第n個補償周期的補償餘數覆蓋第n-1個補償周期的補償餘數。一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準裝置，包括：溫度測量模塊，用於根據測量的RTC模塊的晶體溫度獲取時鐘校準所需的補償參數；控製模塊，用於根據所述補償參數和RTC模塊的補償單位計算補償校準值和補償餘數，並根據所述補償校準值和所述補償餘數對RTC模塊的時鐘頻率進行校準。所述控製模塊，具體用於在個補償周期中，按照所述補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，並將所述補償餘數存入存儲模塊；所述存儲模塊，用於存儲所述補償餘數。