產品名稱：直流開關試驗裝置 大電流試驗裝置 熔斷器測試設備 30年經驗

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統直流開關試驗裝置 大電流試驗裝置 熔斷器測試設備 30年經驗

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。我們身處的時代崇尚“越大越好”,但這一至理名言也許並不適用於FIR濾波器長度。DSP支持的濾波器長度通常為1024點（tabs），有些高達4096點。為什麼人們不想要或不需要長度更長的FIR濾波器？如果生廠商在DSP中引入8192點的FIR濾波器，人們會舍棄競爭產品而選擇它嗎？頻率越低，時間越長，我們需要一份用於練習和實驗的文件。可使用揚聲器的測量數據，但稍微簡單的文件更易於幫助我們發現重要的點。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 但由於-85至-115dBm的範圍高於背景噪聲水平，GPS信號對於GPS接收器始終可見，因此測得的C/NOdBHz水平對於滑塊衰減幾乎冇有關聯性。降低LabSatRF水平就會發現C/NO存在一定程度的下降，但並非線性下降。為LabSat添加40dB外部衰減，會將RF功率降至大約-125dBm至-155dBm的範圍。該範圍與GPS天線在戶外接受的RF水平一致，並低於背景噪聲水平。以此方式降低信號後，就可對C/NO實現更充分的線性控製。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.下表是載波功率和相位噪聲極限值的對應表。相位噪聲的測量在頻域中，常用的相位噪聲測量方法主要有直接頻譜儀法、相位檢波器法、鑒頻器法和雙通道互相關法等。應該指出，在不同場合對相位噪聲的要求不同，測量方法也有所不同。典型的相位噪聲測量可以由專業相位噪聲測試係統完成，但這些專業設備的價格相當昂貴，而頻譜儀或者新一代的信號儀是相對常用的儀器，對一些相位噪聲指標要求不是很嚴格的場合，可以用信號/頻譜儀進行相位噪聲指標的測量。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：國內車禍7%以上在於新手未經有效技能培訓及理論學習，智能化駕考則從源頭上消除人為因素對結果的影響，保證公平、公正及可追溯性，進而減少交通事故。今天就了解一下智能駕考終端是怎樣設計的。隨著國內汽車保有量不斷攀升，更嚴格的駕照新規正在醞釀（科目五，雖然當前隻是傳言）。據統計，國內車禍7%以上在於新手未經有效技能培訓及理論學習，駕考嚴格化也在情理之中。駕考嚴格化的有效實施大致在21年前後，智能化駕考推廣普及。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術。RF抗乾擾能力測試將電路板置於可控製的RF信號電平下，RF電平代表電路工作時可能受到的乾擾強度。從而產生了一個標準化、結構化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質量中可重複的測試結果。這樣的測試結果有助於IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路。可以將被測器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測試其RF敏感度。為了得到一個的、具有可重複性的測試結果，需要采用一種固定的測量方法，在可重複的RF場內測試DUT。