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HNDL係列全自動大電流發生器測試係統大電流恒流源 大電流衝擊試驗裝置 熔斷器大電流試驗裝置 30年經驗
是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。有必要采用一些其他方法來提高傳導EMI的性能。本文主要討論的是引入輸入濾波器來濾除噪聲,或增加罩來鎖住噪聲。EMI濾波器示意簡圖是一個簡化的EMI濾波器,包括共模(CM)濾波器和差模(DM)濾波器。通常,DM濾波器主要用於濾除小於30MHz的噪聲(DM噪聲),CM濾波器主要用於濾除30MHz至100MHz的噪聲(CM噪聲)。但其實這兩個濾波器對於整個頻段的EMI噪聲都有一定的作用。顯示了一個不帶濾波器的輸入引線噪聲,包括正向噪聲和負向噪聲,並標注了這些噪聲的峰值水平和平均水平。
特點
1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設備,全自動控製,式操作,簡單方便。
2、 帶有自動穩流係統,工控機可實現四遙控能
3、 采用當前電力電子技術,抗乾擾能力強,輸出精度高,紋波係數小於0.2%,準確度高於0.5%;。
4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可,無需人工監控,僅需設定測試電流,省去手動調壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設定
5、絕緣耐壓 1800/AC 1min, 絕緣等級:B級
電機測試係統是一個軸與軸“對視”——軸對中的過程,與我們人類找一個合適的人其實非常類似,具體是怎麼樣類似呢?,我們人類牽手了,對視了,也有看錯人的時候;那麼對於軸對中來說,也就有對不準的時候。我們先有圖有真相的看看,什麼才是對準了?然而,有人會問,它隻是個機器,冇有對中冇關係吧?我們可以想一想,如果遇到不對的人行不行?會不會吵架,甚至大打出手?所以,軸對中是一定要的。否則,軸與軸也會“大打出手”,軸的聯軸節處會有力產生,軸承會過早地發生損壞;另外,軸也會“難過”,增大聯軸節的摩擦,使機器的能源使用效率顯著下降,運營成本提高。
二、技術指標
1.輸入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。
3. 輸出開口電壓:0-20V.
4.電流精度 :各電流均可平滑平穩連續可調,精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值,精度高、穩定度高。
5.電流波形失真 THD 1% 設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.
6.保護設置 過流、過壓
7.絕緣阻抗 20兆歐
8.絕緣耐壓 1800/AC 1MIN
9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.其中半導體器件(包括:半導體分立器件、集成電路等)大多數是輻射敏感器件,輻射環境對這些器件的性能會產生不同程度的影響,甚至使其失效。針對輻射效應,在器件的材料、電路設計、結構設計、工藝製造及封裝等各個環節采取加固措施,使其具有一定的抗輻射性能。選擇抗輻射加固的器件應用在空間輻射環境中,將能提高航天器的可靠性和使用壽命;應用在戰略中,將能提高其效能和突防能力。空間輻射環境對電子器件主要產生電離輻射總劑量(TID)效應和單粒子效應(SEE);核輻射環境尤其是核環境,主要產生瞬時電離輻射總劑量效應、中子輻射效應和電磁脈衝損傷效應。
三、操作方法
1、儀器接入380V電壓,在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。
2、打開儀器側麵空氣開關,等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖:
電流輸出線與常閉觸點接入後,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後,都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。
2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖:
自動試驗時,每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖:電源模塊以高集成度、高可靠性、簡化設計等多重優勢,受到許多工程師的青睞。但即便使用相同的電源模塊,不同的用法也會導致係統的可靠性大相徑庭。使用不當,非但不能發揮模塊的優勢,還可能降低係統可靠性。相信各位電路設計者在閱讀DC-DC隔離電源模塊的數據手冊時,時間關注的往往是頁的電源參數,如功率、輸入電壓、輸出電壓、效率、工作溫度、耐壓等級等……但其實在實際應用中,數據手冊中的“電路設計與應用”一節內容同樣重要,它為用戶在實際外圍電路設計過程中提供了寶貴的參考電路經驗。
1.在連接儀器測試線前,應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。
2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。用編程器不僅不能提供編程效率,反而出現了極高的率品,更要命的是很多率芯片已損壞,這不是賠了夫人又折兵嗎(花錢買編程器編壞芯片)?其實客戶的谘詢及反饋,也印證著我們編程器技術一路以來的發展及變革史,細節決定成敗。通常,使用編程器編寫芯片出現品率,是有多因數造成的,比如芯片批次質量波動、編程燒錄房環境及人員習慣素質、夾具使用壽命、編程器老化、編程器時序的兼容性等原因。解決這些基本問題,一般可以通過加強人員培訓,設備維護升級或者及時更新芯片時序算法就可解決,並且也達到了一定的效果。