產品名稱：大電流恒流源 母線槽溫升試驗設備 箱變溫升試驗裝置 5年保修

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統大電流恒流源 母線槽溫升試驗設備 箱變溫升試驗裝置 5年保修

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。快速傅裡葉變換(fastFouriertransform)簡稱FFT,是利用計算機計算離散傅裡葉變換（DFT)的、快速計算方法的統稱。快速傅裡葉變換是1965年由J.W.庫利和T.W.圖基提出的。采用這種算法能使計算機計算離散傅裡葉變換所需要的乘法次數大為減少，特彆是被變換的抽樣點數N越多，FFT算法計算量的節省就越顯著。一直以來，我們接受的教育就是要用FFT來進行頻域信號的測試與。工作以後我們利用示波器上的FFT功能進行頻域信號測試。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 Simplelink傳感器控製器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動模式、待機模式和啟動耗能階段均隻消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控製器包括模擬和數字外圍設備，它們專為實現超低功率而進行了優化。利用這些外圍設備和2MHz時鐘模式，使得該控製器非常適合感應式測量應用，從而實現超低功率：，基於感應式測量原則，可以在100Hz時達到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請參閱流量表應用示例，閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然後根據樣品的失效機理和模型來推算產品在正常條件下的壽命。可靠性是對產品耐久力的測量，我們主要典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。冷熱衝擊試驗用來測試材料結構或複合材料，在瞬間下經高溫、低溫的連續環境下所能忍受的程度，適用電工、電子產品、半導體、電子線路板、金屬材料等材料在溫度急劇變化環境下的適應性。在研製階段可用於發現產品設計和工藝缺陷，在有些情況下也可用於環境應力篩選，剔除產品的早期故障。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：新一代無源光網絡(PON)Tyndall光電子封裝小組研究經理Dr.LeeCarroll表示：“過去的十年見證了矽光子從出現到成為新一代信息通信技術應用媒介的發展過程。采用麵對麵疊加法（3D集成）在矽光子集成電路(Si-PIC)頂部安裝驅動器電子集成電路是一種基於光電子平台實現高速電子解調與分配的實用方案。Tyndall研究院目前正在研發用於高速家用光纖網絡連接的新一代無源光網絡(PON)演示模塊。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。先測試出可控矽的峰值電壓，將電線正負極連接至K兩極，接地線接至室內主接地上，逐漸升壓，測試其漏電流數值。進行漏電測試後，逐漸升壓，觀測漏電流，當數值超過其額定峰值電壓後，可控矽被擊穿，但采用此方法可能會破壞其PN結，並且隻能測試其是否導通，而不能測試其導通是否良好，故不再采用此法進行測試。搖表測試法用搖表對可控矽進行測量，參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控矽，改變搖表操作方法，即要對搖表電壓和轉速進行控製，兩筆端鏈接K極對其進行測試。