產品詳情
  • 產品名稱:大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗
詳情介紹:

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗
大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗
是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率
50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。
則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。偶發異常測試在研發過程中,偶發異常是經常會遇到的情況,但是排查起來相當痛苦,因為偶發異常的不去確定性導致難以判斷發生時間,同時異常波形的形狀又無法確認,冇辦法通過示波器觸發出來。偶發異常可能若乾次,也有可能一周若乾次,而示波器存儲深度小,無法記錄。ZDL6示波記錄儀可選2T硬盤,記錄波形長可達5天,配備雙捕獲功能,長時間的趨勢數據通常采用低采樣率采集趨勢數據,但突發的高度瞬態異常信號需要采用高采樣率捕捉。

大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設備,全自動控製,式操作,簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統,工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術,抗乾擾能力強,輸出精度高,紋波係數小於0.2%,準確度高於0.5%;

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可,無需人工監控,僅需設定測試電流,省去手動調壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級:B

 大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗結構與等效電路本文提出的新型CMRC平麵結構如所示,其LC等效電路模型如所示。介質基板采用TaconicCER_1,其介電常數er=9.5,厚度.64mm。圖CMRC的平麵結構圖LC等效電路模型濾波器特性仿真主要結構參數對傳輸特性的影響我們對所示CMRC結構應用HFSS進行建模以及仿真,並了主要結構參數對濾波器傳輸特性的影響。在仿真中我們發現xy1以及y2對濾波器傳輸特性的影響較大,其影響特性曲線如至所示,由和可知減小x1和y1可以降低諧振頻率,從而相應的可以減小低通頻率範圍,這是因為在等效電路模型中,減小x1或y1都可以提高單位長度的分布串聯電感(L和L1)。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定

3. 輸出開口電壓:0-20V.

4.電流精度 :各電流均可平滑平穩連續可調,精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值,精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗LED的芯片其實就是個半導體,有如以下的IV曲線。反向電壓如果加的過高,LED會因被擊穿而損壞,所以很多時候我們需要去測量反向電壓。若隻是單純要測量芯片的特性,基本上使用電源和萬用表即可。主要可測試的項目包括正向電壓、擊穿電壓、漏電流…測試LED的整體IV曲線特性幾個參數正向電壓:Vf擊穿電壓:Vr漏電流:IL這些項目的測試其實並不算困難,但必須要選對合適的測量儀器。若是選擇了不適合的測量儀器,測試的值誤差則會非常大。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓,在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上

2、打開儀器側麵空氣開關,等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖:

電流輸出線與常閉觸點接入後,注急停按鈕不要按下直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後,都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖:

自動試驗時,每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖:在帶寬500MHz以下的示波器,一般標配是1倍衰減或10倍衰減的無源,某些的衰減比可手動選擇。不同衰減比的在帶寬、輸入電阻、輸入電容上麵都有差異:圖2ZP1025SA1倍、10倍衰減時的參數差異可見的輸入電容,比晶體手冊的負載電容要大。的介入,必定大大影響到原已參數優化好的電路,從而嚴重影響晶體電路的起振。兩害相權取其輕,測量無源晶振時應優先選用10倍衰減。若10倍衰減的寄生參數還是過大,可以考慮選用有源高壓差分,其負載參數優化得非常小,如Lecroy的ZP1000,輸入阻抗可達0.9p1M歐姆。大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗

1.在連接儀器測試線前,應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間300s。噪聲噪聲是開關電源自身產生一種高頻脈衝串,由發生在開關導通與截止瞬間產生的尖脈衝所造成,噪聲的頻率比開關頻率高的多,噪聲電壓的大小很大程度上與開關電源的拓撲、變壓器的繞製、電路中的寄生參數、測試時外部的電磁環境以及PCB的布線設計有關。基於此,紋波和噪聲的區分就很好理解了。下麵開始討論測量。不同示波器測試結果相差的原因如果不同示波器之間的差彆很大,一般是如下幾個原因:未使用20M帶寬限製不同的帶寬引入的噪聲值不同,噪聲值會直接影響Pk-Pk值測量。大電流發生器 溫升試驗裝置 直流溫升試驗係統 30年經驗

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