產品名稱：直流開關試驗裝置 交流溫升試驗設備 全自動溫升測試儀 30年經驗

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統直流開關試驗裝置 交流溫升試驗設備 全自動溫升測試儀 30年經驗

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。汽車自動變速器上的控製設備，包括：液壓回路，其利用控製壓力使至少一個摩擦元件動作；選擇器，其選擇變速器區段；閥，其切換變速器換檔器；以及控製單元，其響應於所選擇的變速器區段來使所述閥切換所述變速器換檔器，並且在切換所述變速器換檔器之前減小所述控製壓力。變速器的控製方法，包括：利用控製壓力使至少一個摩擦元件動作；選擇期望變速器區段；響應於所選擇的期望變速器區段來切換變速器區段；以及在切換變速器區段之前減小所述控製壓力。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 互感器過熱的情況通常表現為，電流互感器一次側導電回路引起的局部發熱;整體介質損耗上升引起的溫度整體上升;電流互感器套管缺油引起的溫度分布異常。互感器過熱的情況通常表現為，電流互感器一次側導電回路引起的局部發熱;整體介質損耗上升引起的溫度整體上升;電流互感器套管缺油引起的溫度分布異常。電壓互感器存在局部缺陷、受潮或老化，使介質損耗增加或局部放電;由鐵芯損耗引起，隨著電壓等級的升高，絕緣的介質損耗嚴重。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.測量參數1.基本參數亮度Lv，色度xy和uv，色溫TΔuv，照度Ev。其它參數輻射度、對比度、均勻度、γ特性、特征波長λd，色純度、閃爍度。應用部門1.研發部門通常對精度及功能要求極高。可選擇CS-2，CS-2，CA-2或CL-2等。品質控製部門對精度及使用方便性要求較高。可選擇CS-2，CA-21等。生產部門對使用方便性及測量速度要求較高。可選擇CA-21等。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：它還采用智能DigjtalDNA技術，在66MHz下工作速度為59Dhrystone2.1MIPS。此外，MCF5282微處理器還具有新型設備：快速以太網媒體存取控製(MAC)，支持100MbpsMII，10MlapsMII和10Mbps7線實際接口，它使以太網連接從板級擴展到芯片級，這是MCF5282區彆於其他類型處理器的特色之一。QSPI模塊，提供帶有序列傳輸性能的串行外圍接口。3個通用異步串行接口模塊UART。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。微波暗室由電磁室、濾波與隔離、接地裝置、通風波導、室內配電係統、監控係統、吸波材料等部分組成。它是以吸波材料作為襯麵的房間，它可以吸收射到六個壁上的大部分電磁能量較好的模擬空間自由條件。暗室是天線設計公司都需要建造的測試設備，因為對於天線的測試比較而且比較係統，其測試指標可以用來衡量一個天線的性能的好與壞。主要是天線公司使用，但其造價昂貴。TEMCELL測TEMCELL測試天線有源指標，因為微波暗室和天線測試係統造價比較昂貴，一般要百萬以上，一般的設計和研發公司冇有這種設備，而用TEMCELL(也較三角錐)來代替測試。