產品名稱：小電流發生器 三相溫升試驗裝置 開關櫃溫升測試儀 5年保修

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統小電流發生器 三相溫升試驗裝置 開關櫃溫升測試儀 5年保修

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。擅長“小型化”的日本廠家過去，電子產品的進步主要是以半導體為中心的“小型化”的發展（也就是所謂的“摩爾定律”），同時附加很多功能。如今，電子產品的進步主要是體現在當今發展到頂點的智能、以智能手表（SmartWatch）為代表的可穿戴設備（WearableDevice）。這些產品都是通過電池驅動且具有較高的計算（Computing）功能，另外也具備攝像、運動（Motion）、氣壓、溫度等多個傳感器。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 近，FLIR隆重推出一款針對科研熱像儀的新型數據處理軟件：FLIRResearchStudio?。對於研究人員和工程師而言，強大的數據軟件可能就像熱像儀的畫質和速度一樣重要。這款軟件不但要簡單易用，還要提供廣泛的測量工具。關於它的優勢，旨在以用戶習慣的方式和簡化的工作流程顯示、記錄、查看和FLIR熱像儀數據。用戶界麵簡單易用——無論Windows、MacOS還是Linux操作係統——並且有助於縮短實驗和收集有效數據所需時間。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.與儀器儀表有關的生命周期服務有：安裝與調試、支持與維護服務、搬遷規劃與升級項目、儀器谘詢與流程，以及培訓、校驗、零件與維修服務。這些服務的一個重要方麵是協助客戶避免因信號完整性不足或儀器、執行器的故障引起突發停機。突發停機會帶來嚴重後果會造成數千甚至數百萬美元的生產損失和資源浪費。ABB提供的緊急維修協助，旨在縮短突發停機的時間。在目前情況下，客戶要求儀器供應商進行拜訪或簽署合同，在預定的停工時間內進行定期維護，這種方法的檢修成本勢必很高。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：今天我們一起來深扒MVB協議。MVB介紹TCN是鐵路列車車輛之間和車輛內部可編程設備互聯傳送控製、檢測與診斷信息的數據通信網絡。MVB為多功能車輛總線，它是列車通信網TCN的一部分，TCN網絡由WTB+MVB構成。MVB是一種主要用於對有互操作性和互換性要求的互連設備之間的串行數據通信總線，它將位於同一車輛，或不同車輛中的標準設備連接到列車通信。其固定傳輸速率為1.5Mbit/s。列車通信網絡列車通信網絡通常采用分層結構，根據列車控製的特點分為上下兩層，每一層根據不同的特性要求相應有不同適用局部網絡，包括列車總線層（WTB）和多功能車輛總線層（MVB）。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。簡介40多年來，數字功能測試一直是測試領域的一部分。早的測試係統采用簡單的靜態數字測試功能。然而，隨著這些數字設備，模塊和係統的性能、複雜性的發展，數字測試儀器也在不斷發展。特彆是，器件切換速率相關技術的持續進步已經對測試儀器和係統提供了相對更高的性能要求，而今天的半導體測試係統提供了具有高功耗的數GHz測試功能。在**-航天應用，數字功能測試要求不斷的提出一係列特的要求和挑戰。與設備測試相關的測試要求不同，M-A應用主要側重於支持模塊和係統級測試。