產品名稱：交流大電流發生器 母線槽溫升試驗設備 全自動溫升測試儀 定製定做

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統交流大電流發生器 母線槽溫升試驗設備 全自動溫升測試儀 定製定做

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。因為隻有靈敏度高時，與被測量變化對應的輸出信號的值才比較大，有利於信號處理。但要注意的是，傳感器的靈敏度高，與被測量無關的外界噪聲也容易混入，也會被放大係統放大，影響測量精度。要求傳感器本身應具有較高的信噪比，儘員減少從外界引入的廠擾信號。傳感器的靈敏度是有方向性的。當被測量是單向量，而且對其方向性要求較高，則應選擇其它方向靈敏度小的傳感器；如果被測量是向量，則要求傳感器的交叉靈敏度越小越好。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 模擬傳感器輸出的一般都是小信號，都存在小信號放大、處理、整形以及抗乾擾問題，也就是將傳感器的微弱信號地放大到所需要的統一標準信號(如1VDC～5VDC或4mADC～20mADC)，並達到所需要的技術指標。這就要求設計製作者必須注意到模擬傳感器電路圖上未表示出來的某些問題，即抗乾擾問題。隻有搞清楚模擬傳感器的乾擾源以及乾擾作用方式，設計出消除乾擾的電路或預防乾擾的措施，才能達到應用模擬傳感器的狀態。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.對於同一個電源，使用不同的示波器測量紋波和噪聲值總是有些差異。甚至使用不同的也會影響測量結果。是什麼原因呢？紋波和噪聲的區彆紋波由於開關電源的開關管工作在高頻的開關狀態，每一個開關過程，電能從輸入端被“泵到”輸出端，在輸出電容上形成一個充電和放電的過程，從而造成輸出電壓的波動，而且此波動的頻率與開關管的開關頻率相同，這個波動就是輸出紋波，是疊加在輸出直流上的交流成分，紋波的幅值是該交流成分的波峰與波穀之間的峰峰值。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：徇或表征儀表穩定性如今尚未有定量值，化工企業通常用儀表零漂移來權衡儀表的穩定性。稱重儀表穩定性的優劣直接乾係到儀表的應用範疇，偶爾直接影響化工消費，穩定性不好形成的影響屢屢雙儀表精度降落對化工消費的影響還要大。穩定性不好儀表維護量也大，是儀表工不盼望呈現的事情。稱重儀表的敏銳度偶爾也稱“放大比”，也是儀表靜特性貼切線上各點的斜率。增長放大倍數能夠進步儀表敏銳度，單純加大敏銳度並不變化儀表的基天性能，即稱重儀表精度並冇有進步，相反偶爾會呈現振蕩征象，形成輸出不穩定。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。可靠性是對產品耐久力的測量，我們主要典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。集成電路的失效原因大致分為三個階段：階段被稱為早期失效期,這個階段產品的失效率快速下降，造成失效的原因在於IC設計和生產過程中的缺陷；階段被稱為偶然失效期,這個階段產品的失效率保持穩定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；階段被稱為損耗失效期，這個階段產品的失效率會快速升高，失效的原因就是產品的長期使用所造成的老化等。