產品名稱：溫升電流發生器 JP櫃溫升試驗設備 三相溫升試驗係統 定製定做

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統溫升電流發生器 JP櫃溫升試驗設備 三相溫升試驗係統 定製定做

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。可以用多種方法來縮短校準相位陣列天線所需的測試時間。其中有效的方法應當是充分利用測試覆蓋範圍及其特定的天線體係結構。從根本上講，對天線的陣元進行相對調整需要通過相對幅度（增益）和相位測量來實現。不過，這些測試需要由用戶使用射頻/微波在測試覆蓋範圍內的頻率和相位AUT狀態下進行。為應對大規模、多通道天線校準的挑戰，是德科技推出了一種校準參考解決方案。該參考解決方案是硬件、軟件和測量專業知識的集成，為窄帶天線校準測試係統提供關鍵組件。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 從上述原理可知，諧波源負載是否會對同一個電網上的電子設備造成乾擾，主要取決於電子設備的電源線輸入端電壓諧波畸變的大小，以及電子設備供電電源的抗乾擾能力。諧波源負載產生同樣的諧波電流的情況下，與變壓器之間的距離越遠，則對應的電網阻抗越大，引起的電壓畸變就越大，越容易對同一個電網上的電子設備形成乾擾。而不同的電子設備抗畸變電壓的能力也有優劣之分，在同一供電網絡，某台電子設備會受乾擾，並不意味著所有的電子設備在這個位置都會受乾擾。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.將天線、射頻、模擬、數字處理器和適當的接口等準確地進行集成，需要昂貴和繁瑣的設計。但是現在，我們的集成雷達芯片帶來了許多性的即插即用解決方案。除了標準的汽車應用之外，許多工業和商業應用也可以從簡單易用的TI毫米波傳感器中獲益。集成DSP和微控製器的效率和便利性將提供多種用途。它可以通過實時監控糾正前端異常情況來提高整體性能。此外，它還專門提供一個芯片上的平台用於本地應用程序和數據。，無人機上的嵌入式毫米波傳感器可以檢測農業土壤和作物的品質。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。同時，毫米波對毛發具有一定的穿透能力，不至於對受檢人員的衣物造成大量虛警，減輕了安檢人員的工作負擔。相較而言，低頻段的毫米波探測設備雖然更容易實現，但其分辨率隨著頻率降低和波長增加而變差，38GHz的信號隻能探測4~5mm的物體，雖然經濟，但不適用於標準的安檢工作。該頻段的電磁波對無害，相較於X光，毫米波的電磁輻射是非電離輻射；相較於低頻的設備，毫米波輻射的探測深度僅到表皮，不會到達真皮以下。