產品名稱：溫升大電流發生器 溫升試驗設備 JP櫃溫升測試儀 5年保修

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統溫升大電流發生器 溫升試驗設備 JP櫃溫升測試儀 5年保修

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。因為探測器口的位置及擋板的設置是固定的，而不同的反射分布直接表現為信號起伏。在普通的測量係統中，不同的正向發散角的LE同一LED不同的放置方向、同一方向不同位置等差異，即使光通量是一致，表現出來的測量值也表現出的差。根據客戶的驗證結果，普通LED測量係統LED的放置方向對光通量測量結果的影響往往超過50%(這一點尤其在國產設備上表現特彆明顯)。在測量不同LED不同發光角度時，由於在積分球內表麵的分布差異使得直接反射的分布對探測器的影響也不同，從而直接影響到兩者測量的準確性的差異。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 相信大家都還記得217年6月在上映的《新木乃伊》掀起了一波木乃伊熱潮。然而，細心的同行們會發現，片中竟然出現了美國FLIR紅外熱成像儀。到底是哪款設備能夠入得了大名鼎鼎的艾利克斯導演的法眼，並在影片中精彩亮相的呢？下麵，將為大家介紹一下：T6係列手持式紅外熱成像儀極限分辨率FLIRT6紅外熱成像儀具有強成像性能和精度的手持產品3大優異的熱成像功能，包含64×48原始分辨率。像素熱分辨率，具有UltraMaxTM（超級放大）功能—分辨率改善4倍，獲得更細微的細節信息和精度。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.HermannKaubitzsch還負責對攝像機進行同步和評估，這項任務也不容小覷。一組博士研究生為8台攝像機開發了3D布置，這些攝像機必須在超輕型飛機上占用儘可能小的空間。甚至還製作了一塊敞開的定製基板，將係統安裝在旋翼機上。也很快就為該“斜視角係統”取名為：AOS--Tx8。該係統通過以太網控製，圖像數據顯示在1英寸的屏幕上。“幾年前，我們嘗試過使用不同型號的紅外熱像儀，但是通過以太網對其進行控製並冇有達到預期的效果，”Bannehr教授解釋道。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：讀數僅取決於電阻，實際上與測試引線電阻無關。四線測量可產生非常準確，可重複和穩定的電阻測量值，特彆適合於低值測量，甚至低至1兆歐。由於輸入阻抗和電壓表的泄漏電流可能會影響讀數，因此它不太適合高阻值的測量。六線測量如果要測量的電阻與其他電阻並聯，則使用六線測量。這是在ATE係統中要在PCB上就地測量電阻的常見問題。該技術通過在用戶定義的節點上保持保護電壓來隔離被測電阻，該保護電壓由來自V+端子的電壓緩衝器驅動。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。其中半導體器件(包括：半導體分立器件、集成電路等)大多數是輻射敏感器件，輻射環境對這些器件的性能會產生不同程度的影響，甚至使其失效。針對輻射效應，在器件的材料、電路設計、結構設計、工藝製造及封裝等各個環節采取加固措施，使其具有一定的抗輻射性能。選擇抗輻射加固的器件應用在空間輻射環境中，將能提高航天器的可靠性和使用壽命;應用在戰略中，將能提高其效能和突防能力。空間輻射環境對電子器件主要產生電離輻射總劑量(TID)效應和單粒子效應(SEE);核輻射環境尤其是核環境，主要產生瞬時電離輻射總劑量效應、中子輻射效應和電磁脈衝損傷效應。