產品名稱：大電流恒流源 大電流溫升試驗設備 母線槽溫升試驗係統 30年經驗

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統大電流恒流源 大電流溫升試驗設備 母線槽溫升試驗係統 30年經驗

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。直流電源這種自動切換功能具有一定的靈活性，並且可以在一定的負載變化範圍內維持電源在同一種輸出模式；而且在負載變化超出預期範圍時仍然能夠在電源能力範圍內維持工作。若負載具有很高的電壓或電流的敏感特性，或需要確保電源工作在某種模式下，此時這種自動切換功能就具有了局限性。，激光二極管測試時，需要保證電源工作在恒流模式下，否則會損壞被測件。全天科技大功率直流電源為此提供了一種的功能–折返(Foldback)保護功能。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 光纖接續光纖接續。光纖接續應遵循的原則是：芯數相等時，要同束管內的對應色光纖對接，芯數不同時，按順序先接芯數大的，再接芯數小的。光纖接續的方法有：熔接、活動連接、機械連接三種。在工程中大都采用熔接法。采用這種熔接方法的接點損耗小，反射損耗大，可靠性高。光纖接續的過程和步驟：開剝光纜，並將光纜固定到接續盒內。注意不要傷到束管,開剝長度取1m左右，用衛生紙將油膏擦拭乾淨,將光纜穿入接續盒,固定鋼絲時一定要壓緊,不能有鬆動。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的範圍：2.7V-3.6V；不允許超出此範圍，否則，芯片在不穩定的電壓下工作會有比較大的風險，甚至會對卡片的正常工作帶來影響。需要考慮的是示波器的設置，究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限製？詳細的使用環境如下圖所示：如何去測試“高頻開關電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當做電源的源端，而通過後端的外圍模塊後在末端進行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限製，實際上是將原本屬於模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進行了對比測試進行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發現在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊後在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當我們在圖片上的點進行測試的時候，發現在高頻開關電源上有相當大的噪聲，使得電壓超出了規範要求的範圍，值達到了3.814V，峰峰值達854mV；但當我們將示波器設置為20MHZ帶寬的時候，高頻開關電源變的非常好，完全在供電要求的範圍內；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關電源測試過程中，已經不是高頻開關電源紋波測量，而應該是噪聲。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術。RF抗乾擾能力測試將電路板置於可控製的RF信號電平下，RF電平代表電路工作時可能受到的乾擾強度。從而產生了一個標準化、結構化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質量中可重複的測試結果。這樣的測試結果有助於IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路。可以將被測器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測試其RF敏感度。為了得到一個的、具有可重複性的測試結果，需要采用一種固定的測量方法，在可重複的RF場內測試DUT。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。絕緣變差而引入的誤差如熱電偶絕緣了，保護管和拉線板汙垢或鹽渣過多致使熱電偶極間與爐壁間絕緣，在高溫下更為嚴重，這不僅會引起熱電勢的損耗而且還會引入乾擾，由此引起的誤差有時可達上。熱惰性引入的誤差由於熱電偶的熱惰性使儀表的指示值落後於被測溫度的變化，在進行快速測量時這種影響尤為突出。所以應儘可能采用熱電極較細、保護管直徑較小的熱電偶。測溫環境許可時，甚至可將保護管取去。由於存在測量滯後，用熱電偶檢測出的溫度波動的振幅較爐溫波動的振幅小。