
- 聯係人 : 車高平 肖吉盛
- 聯係電話 : 0532-88365027
- 傳真 : 0532-88319127
- 移動電話 : 13608980122
- 地址 : 青島南京路27號
- Email : 88365027@163.com
- 郵編 : 266700
- 公司網址 : http://www.88365027.com
- MSN : 88365027@163.com
- QQ : 1265377928
HNDL係列全自動大電流發生器測試係統直流開關試驗裝置 三相溫升試驗裝置 熔斷器大電流試驗裝置 5年保修
是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。原來如此,原來收視率是這麼統計出來的啊。明白了收視率統計的方法,那麼模擬信號到數字信號的采樣也就清楚了,他們的采集過程極其相似,細細品味下吧。收視率是要收集大家看電視節目的信息,樣本采集的目的是為了限度地還原人們看電視節目的比例問題,而通信的采樣是通過采集模擬信號的樣本值來限度地還原模擬信號的本來麵目。兩者還有一個相似之處,電視節目的抽樣要達到一定的比率,覆蓋夠典型的收視群體才能準確反映收視率。
特點
1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設備,全自動控製,式操作,簡單方便。
2、 帶有自動穩流係統,工控機可實現四遙控能
3、 采用當前電力電子技術,抗乾擾能力強,輸出精度高,紋波係數小於0.2%,準確度高於0.5%;。
4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可,無需人工監控,僅需設定測試電流,省去手動調壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設定
5、絕緣耐壓 1800/AC 1min, 絕緣等級:B級
饋線電阻RL1和RL2對測量結果冇有影響。饋線電阻RL3和RL4對測量有影響,但影響很小,由於數字萬用表的輸入阻抗(MΩ級)遠大於饋線電阻(Ω級),所以,四線測量法測量小電阻的準確度很高。不過,四線測量中的恒流源電流的度非常關鍵。建議采用外加的更穩定的恒流源電流;應注意的是,外加的恒流源電流的大小要與數字萬用表恒流源電流的大小相等。我們采用的外加的恒流源電流由高精密基準電壓源MAX6250、運放及擴流複合管組成,如所示。
二、技術指標
1.輸入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。
3. 輸出開口電壓:0-20V.
4.電流精度 :各電流均可平滑平穩連續可調,精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值,精度高、穩定度高。
5.電流波形失真 THD 1% 設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.
6.保護設置 過流、過壓
7.絕緣阻抗 20兆歐
8.絕緣耐壓 1800/AC 1MIN
9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.半導體生產流程由晶圓製造,晶圓測試,芯片封裝和封裝後測試組成,晶圓製造和芯片封裝討論較多,而測試環節的相關知識經常被邊緣化,下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容,主要集中在WAT,CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成製程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據,測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機台上,由WATRecipe自動控製測試位置和內容,測完某條TestKey後,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。
三、操作方法
1、儀器接入380V電壓,在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。
2、打開儀器側麵空氣開關,等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖:
電流輸出線與常閉觸點接入後,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後,都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。
2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖:
自動試驗時,每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖:應用背景用頻裝備是現代化戰爭中的重要組成部分,在很多場合用頻裝備性能指標的高低直接決定了戰爭全局的勝敗。然而,在的實際戰區的電磁環境中,充斥著種類繁多的複雜電磁信號,雷達、導航、通信、敵方乾擾、自然噪聲等信號。同時由於電磁信號的傳播受到實際地理環境的顯著影響,導致戰區電磁環境異常複雜。用頻裝備在複雜電磁環境下的性能測試成為其研製過程中的重要內容。概括來說,裝備的電磁性能測試按環境不同可分為三類。
1.在連接儀器測試線前,應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。
2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。在很多人認識裡,隻有使用同步采樣才能進行的諧波,其實采用非同步采樣同樣能進行諧波,而且在許多情況下甚至比同步采樣法更。PA功率儀提供了常規諧波、諧波和IEC諧波三種諧波測量模式,支持同步和非同步的諧波,將兩種方式互補使用可提高諧波的能力。下麵通過其計算方法的簡單,結合實例討論三種諧波模式的使用。諧波測量基本原理目前常用的諧波方法是使用傅裡葉變換,將時域的離散信號進行傅裡葉級數展開,得到離散的頻譜,從離散的頻譜中挑選出各次諧波對應的譜線,計算得出諧波各項參數。