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HNDL係列全自動大電流發生器測試係統小電流發生器 JP櫃溫升試驗設備 JP櫃溫升試驗裝置 30年經驗
是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。容錯CAN簡介先來了解一下容錯CAN,容錯CAN的物理層是由CAN-CAN-L、GND三根線組成的。下為CAN總線通信信號的示意圖:CAN總線通信信號由圖中我們可以看出,CAN-CAN-L的電壓幅值在顯隱性發生變化時幅值變化高達4V,這樣不僅可以保證正常狀態下CAN總線的穩定工作,還可以保證CAN總線中CAN-CAN-L其中一條發生故障(短路或者斷路)時,容錯CAN會自動識彆總線狀態,根據總線狀態做出調整(具體見下表1),保證了CAN總線在故障時的通訊正常。
特點
1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設備,全自動控製,式操作,簡單方便。
2、 帶有自動穩流係統,工控機可實現四遙控能
3、 采用當前電力電子技術,抗乾擾能力強,輸出精度高,紋波係數小於0.2%,準確度高於0.5%;。
4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可,無需人工監控,僅需設定測試電流,省去手動調壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設定
5、絕緣耐壓 1800/AC 1min, 絕緣等級:B級
瞬態溫度響應曲線包含了熱流傳導路徑中每層結構的詳細熱學信息(熱阻和熱容參數)。應用實例1.如何利用結構函數識彆器件的結構LED的一般散熱路徑為:芯片-固晶層-支架或基板-焊錫膏-輔助測試基板-導熱連接材料如下麵結構函數顯示,結構函數上越靠近y軸的地方代表著實際熱流傳導路徑上接近芯片有源區的結構,而越遠離y軸的地方代表著熱流傳導路徑上離有源區較遠的結構。積分結構函數是熱容—熱阻函數,曲線上平坦的區域代表器件內部熱阻大、熱容小的結構,陡峭的區域代表器件內部熱阻小、熱容大的結構。
二、技術指標
1.輸入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。
3. 輸出開口電壓:0-20V.
4.電流精度 :各電流均可平滑平穩連續可調,精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值,精度高、穩定度高。
5.電流波形失真 THD 1% 設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.
6.保護設置 過流、過壓
7.絕緣阻抗 20兆歐
8.絕緣耐壓 1800/AC 1MIN
9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.如果套管內部存在缺陷,也可能導致套管異常發熱。在這種情況下,發生故障套管的整體溫度一般較其他正常的兩相高(如下圖紅外熱像儀應用在套管上)。如果套管內部或外部接頭存在接觸,或接點被氧化腐蝕,也可能導致套管接觸點溫度異常。在這種情況下,發生故障套管接觸點就會表現出觸點的溫度明顯高於其他正常的點或線路或套管。變壓器套管熱缺陷的紅外熱像儀應用檢測依據根據DL/T664-20089.1電流致熱型設備的判斷:套管將軍帽與外部接線板或內部導電杆接觸是電流致熱故障,判斷依據如下:套管內部存在缺陷的情況比較複雜:有可能是電壓致熱故障所引起的,也有可能是套管機械損傷造成的。
三、操作方法
1、儀器接入380V電壓,在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。
2、打開儀器側麵空氣開關,等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖:
電流輸出線與常閉觸點接入後,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後,都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。
2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖:
自動試驗時,每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖:尤其在使用高速數據網絡時,攔截大量信息所需要的時間顯著低於攔截低速數據傳輸所需要的時間。數據雙絞線中的絞合線對在低頻下可以靠自身的絞合來抵抗外來乾擾及線對之間的串音,但在高頻情況下(尤其在頻率超過250MHz以上時),僅靠線對絞合已無法達到抗乾擾的目的,隻有才能夠抵抗外界乾擾。電纜層的作用就像一個法拉第護罩,乾擾信號會進入到層裡,但卻進入不到導體中。數據傳輸可以無故障運行。由於電纜比非電纜具有較低的輻射散發,因而防止了網絡傳輸被攔截。
1.在連接儀器測試線前,應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。
2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。由P區引出的電極為陽極,由N區引出的電極為陰極,如下圖所示,溫度對二極管的性能有較大的影響,這是由於半導體材料的特性所致,溫度升高時,二極管的正向壓降將減小,每增加1oC,正向壓降減小約2mV,可以從下圖看出,由半導體理論可以得出,PN結所加端電壓u與流過它的電流i的關係為:其中,Is為反向飽和電流,對於矽材料來說,Is約為10pA;q為電子的電量,q=1.6*10-9C;k是玻耳茨曼常數,k=1.38*10-23J/K;T為溫度,kT/q可以用UT來代替,則常溫下,即T=300K時,UT約為26mV。