產品名稱：溫升電流發生器 三相溫升試驗裝置 溫升試驗係統 5年保修

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統溫升電流發生器 三相溫升試驗裝置 溫升試驗係統 5年保修

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。一個半導體氣體傳感器製造商采用的基於PXI的集成化測試解決方案，該方案可提供測試所需的準確性，適應非常大規模的現場計數，並且在低成本的情況下可匹配高性能半導體測試係統的整體吞吐量性能。MOX氣體傳感器介紹MOX氣體傳感器是作為多芯片模塊(MCM)製作的微機電係統(微機電係統)器件。MCM的基本組成部分是微控製器ASIC，在晶圓片上試，以及傳感器本身。這些組件被放置在一個共同的基板上，蓋子被放置在組件上，有一個小的孔或網，允許氣體進入傳感器。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 地線也是有阻抗的，電流流過地線時，會產生電壓，此為噪聲電壓，而噪聲電壓則是影響係統穩定的乾擾源之一，不可取。所以，要降低地線噪聲的前提是降低地線的阻抗。，地線是電流返回源的通路。隨著大規模集成電路和高頻電路的廣泛應用，低阻抗的地線設計在電路中顯得尤為重要。這裡就簡單列舉幾種常用的接地方法。單點接地單點接地，顧名思義，就是把電路中所有回路都接到一個單一的、相同的參考電位點上。如下圖所示。單點接地可以分為“串聯接地”和“並聯接地”兩種方式。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.另外一種常見於ARM芯片，我們知道ARM芯片采用統一的編程接口SWD接口，某些ARM芯片會提供兩個AP(AccessPort)，通過關閉訪問內部空間的AP可以達到加密的目的。而如果想解鎖，就要訪問另一條AP，這條AP隻可以訪問一個寄存器，通過寫入該寄存器特定的數據就可以將芯片重置為默認狀態。還有一種加密方式和上麵類似，隻不過采用了兩個編程接口，而不是同一編程接口的兩條AP。總之，加密就是讓你無法讀取芯片數據，而又可以通過擦除再次升級固件。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：同時，如果傳輸通道完全中斷，從此點以後的後向散射光功率也降到零，根據反射傳輸回來的散射光的情況又可以判斷光纖斷點的位置和光纖的長度。otdr就是通過測量被測光纖所產生的後向散射光，以及菲涅爾反射光來測量光纖的衰減特性，故障點、光纖長度、接頭損耗等光特性，並能以軌跡的形式顯示到顯示器。曲線故障測試實例故障判斷及類型。主要有兩類：全程損耗增大和完全中斷。光纜線路損耗增大和中斷的原因歸納起來有如下幾點：有彎曲和微彎曲。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。而如果C的容值越小，對電路的影響也就越小。但限於目前的測試係統，C3和串聯後的電容值是幾個pF的級彆，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上，終會導致測量結果產生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設計對晶體頻偏的要30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀，配合近場測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。