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HNDL係列全自動大電流發生器測試係統三相溫升大電流發生器 全自動溫升試驗設備 箱變溫升測試儀 定製定做
是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。為了更好的接地,所以在儀器設備的製造中往往會預留專門的接地端子來接保護地線。接地會產生觸電危險。儀器類產品AC電源端口電路中EARTH與產品金屬外殼相連,一旦出現接地時,產品金屬外殼上將存在110VAC高壓。C2和C3為安規電容,當失效後擊穿不會短路,而是斷路,確保了**。以一個實際舉例來說明下不接地線危害:故意減掉PA2000mini功率儀的地線,這時候儀器處於接地的狀態,機殼會帶110V電壓,會發生觸電危險。
特點
1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設備,全自動控製,式操作,簡單方便。
2、 帶有自動穩流係統,工控機可實現四遙控能
3、 采用當前電力電子技術,抗乾擾能力強,輸出精度高,紋波係數小於0.2%,準確度高於0.5%;。
4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可,無需人工監控,僅需設定測試電流,省去手動調壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設定
5、絕緣耐壓 1800/AC 1min, 絕緣等級:B級
分彆使用SpectrumView和傳統的FFT(Math功能)測試該信號的頻譜,通過對比可以看出,由於時域捕獲時間較短,導致傳統FFT頻譜的分辨率非常低。相反,SpectrumView的頻譜測試結果非常好,不僅具有高分辨率,而且底噪也非常低,可以清晰地觀測信號本身及其諧波和雜散。與此同時,由於水平時基設置得較小,還可以觀測到時域波形的細節信息。.諧波、雜散測試:時域參數及頻譜測試鑒於SpectrumView的這些優勢,結合示波器其它功能,還可以對射頻脈衝信號進行診斷測試,包括時域包絡參數及信號頻譜等。
二、技術指標
1.輸入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。
3. 輸出開口電壓:0-20V.
4.電流精度 :各電流均可平滑平穩連續可調,精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值,精度高、穩定度高。
5.電流波形失真 THD 1% 設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.
6.保護設置 過流、過壓
7.絕緣阻抗 20兆歐
8.絕緣耐壓 1800/AC 1MIN
9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.同時,如果傳輸通道完全中斷,從此點以後的後向散射光功率也降到零,根據反射傳輸回來的散射光的情況又可以判斷光纖斷點的位置和光纖的長度。otdr就是通過測量被測光纖所產生的後向散射光,以及菲涅爾反射光來測量光纖的衰減特性,故障點、光纖長度、接頭損耗等光特性,並能以軌跡的形式顯示到顯示器。曲線故障測試實例故障判斷及類型。主要有兩類:全程損耗增大和完全中斷。光纜線路損耗增大和中斷的原因歸納起來有如下幾點:有彎曲和微彎曲。
三、操作方法
1、儀器接入380V電壓,在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。
2、打開儀器側麵空氣開關,等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖:
電流輸出線與常閉觸點接入後,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後,都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。
2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖:
自動試驗時,每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖:汙水處理廠簡圖流量計還被用於許多工業控製過程,包括化學/製藥、食品飲料、紙漿造紙等。此類應用常常需要在有大量固體存在的情況下測量流量—大部分流量技術不能輕鬆勝任這一要求。輸送計量領域處理兩方之間的產品轉移和支付,需要流量計。實例之一是通過大型管道係統輸送油品。在這種應用中,流量測量精度隨時間的變化即便很微小,也可能導致某一方損失或獲得重大利益。電磁感應技術非常適合液體流量測量對於液體流量測量,電磁流量計技術有多種優勢。
1.在連接儀器測試線前,應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。
2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。先測試出可控矽的峰值電壓,將電線正負極連接至K兩極,接地線接至室內主接地上,逐漸升壓,測試其漏電流數值。進行漏電測試後,逐漸升壓,觀測漏電流,當數值超過其額定峰值電壓後,可控矽被擊穿,但采用此方法可能會破壞其PN結,並且隻能測試其是否導通,而不能測試其導通是否良好,故不再采用此法進行測試。搖表測試法用搖表對可控矽進行測量,參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控矽,改變搖表操作方法,即要對搖表電壓和轉速進行控製,兩筆端鏈接K極對其進行測試。