產品名稱：大電流發生器 交流溫升試驗設備 斷路器溫升試驗係統 5年保修

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統大電流發生器 交流溫升試驗設備 斷路器溫升試驗係統 5年保修

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。望遠鏡配置包含了八個子望遠鏡陣列和光束組合望遠鏡位於陣列的，用來采集來自子望遠鏡的光線，並且可以在聚焦平麵上產生乾涉圖像。光學延遲線可以均衡來自每個子望遠鏡不同波前進入路徑的差彆，後到達覆蓋在上麵的聚焦平麵。乾涉邊緣圖案樣式在聚焦平麵上形成，並且具有良好的可見度，在乾涉儀臂之間的光學路徑差（OPD）被保持在比相乾長度小的範圍之內。隨著OPD的增加，邊緣圖案變得越來越黯淡，即其可見度越來越低。這是因為乾涉儀並非工作在單一的波長上，而是工作在有限的頻帶上。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 時序的一致性和穩定性，一直以來都是業界難題。在某產品測試過程中，工程師反饋偶爾會出現數據異常，經過係統性的，致遠電子測試團隊推測可能是ADC芯片的SPI通信總線的時序存在偶發異常，但由於異常出現概率很低，該如何對SPI通信總線偶發的時序問題進行呢？下文為你ZLG致遠電子的時序一致性測試方案。搭建測試環境SPI總線測試點位於主機的主板底部，時鐘頻率大約為33MHz，屬高頻信號，所以對的端接方式比較講究；為了方便測試，如所示，用將測試點引出，的地線也從前端自繞線引出，這樣可以提高信號完整性，減少示波器采樣對時序過程的影響。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.另外一個必須注意的是要檢查網分的源輸出功率，避免損壞電子校準件或者讓電子校準件過載。我們將源輸出功率調整為-15dBm。把電子校準件的B端口連接到E5063A的端口1，電子校準件的A端口連接到SMA線纜的一端，注意要使用轉矩扳手擰緊並開始校準。校準過程僅需幾秒鐘。Step2開始測量把被測件連接到E5063A的端口1，以及SMA線纜的一端。(SMA線纜的另外一端接的是E5063A的端口2)進行S11端口1反射測量。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：石油、液化氣和天然氣精煉廠、存儲設施、傳輸係統和配電站（及其**監控功能）正遷移為通過雲類型環境實現的全連接形式。類似地，居家雲係統可提供遙控等優勢。在這裡，通過使用智能或平板電腦，可以訪問關鍵的家庭或設施係統，以讀取傳感器信息、節省能源、做使用準備或在不需要時關閉服務。值得注意的示例是遙控恒溫器。連接到微控製器和通信網絡的簡單溫度傳感器，有助於降低加熱和空調（屬於耗電的居家係統）所消耗的能源。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。而基於成像光度測量燈具光強分布的研究由於更加複雜，精度難以提高，目前仍處於研究階段。燈具的分布光度測量是燈具設計和照明設計中質量控製的重要環節，尤其是隨著LED等新光源和新興照明技術的發展，對燈具分布光度測量提出了新的挑戰。因此我們根據目前發展狀況及需求，進行基於成像光度法的LED光強分布測試的分布光度計研製。目前國內燈具市場產品質量良莠不齊，每年有大量新款燈具湧入市場。其實際照明效果的評估往往得不到有效評估。