產品名稱：大電流直流電源 母線槽溫升試驗設備 JP櫃溫升試驗裝置 30年經驗

HNDL係列全自動大電流發生器測試係統大電流直流電源 母線槽溫升試驗設備 JP櫃溫升試驗裝置 30年經驗

是青島華能遠見有限公司自主研製開發的專業應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數據的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調壓輸出電流。靈敏度與準確度測量輸出變化與標準值變化之間的關係稱為靈敏度。理想情況下這種關係呈現為線性，但在實際操作中所有測量均會存在某些瑕疵或不確定性。被測值與與標準值的一致性通常簡單地稱為“準確度”，但這是一個略微模糊的術語。嚴格定義的準確度通常包括重複性。重複性指在測量條件不變的情況下，儀器在重複測量時能夠達到相似測量結果的能力(見)。但是其可能包含也可能不包含濕滯、溫度依賴性、非線性和長期穩定性。重複性本身通常是測量不確定性的次要來源，如果精度規範不包含其它不確定性，則其可能會造成對實際測量性能的錯誤印象。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩流係統，工控機可實現四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試電流，省去手動調壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 在自動駕駛行人橫穿緊急製動測試中，測試工程師會根據自動駕駛車輛行駛的速度，準確的讓行人以一定速度橫穿測試道路，同時時刻關注並記錄車輛運動過程中的速度、加速度、橫縱向相對距離、以及判斷觸發AEB時刻起到後刹停時自動駕駛車輛的加速度，刹停時相對於假人的相對距離等高精度數據是否滿足《重慶市自動駕駛道路測試準入測試規範》中的測試要求。在整個測試過程中測試駕駛員不得踩踏製動踏板或轉動方向盤，且自動駕駛車輛不得與前方車輛及行人發生碰撞。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩連續可調，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數值，精度高、穩定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.在耐壓測試前，因為進行了接線的檢測，即使隻花了很少的時間，還是增加了接觸時間，這是該方法的欠缺。監測電壓外加部分的電壓耐壓測試儀所顯示的電壓，是發生端的電壓，並不是被測物電壓外加部分的電壓。所以如果接線正常，發生端電壓和電壓外加部分電壓應該是相同的。如果斷線或接觸，電壓外加部的電壓會小於發生端的電壓，這時即可判斷為接線有異常。因為能夠檢測出耐壓測試中接線的異常，且對於生產線的接觸時間又冇什麼影響，這一點是比較便利的。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調節電流輸出大小。(每次試驗結束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。接收氣室用幾微米厚的金屬薄膜分隔為兩半部，室內封有濃度較大的被測組分氣體，在吸收波長範圍內能將射入的紅外線吸收，從而使脈動的光通量變為溫度的周期變化，再可根據氣態方程使溫度的變化轉換為壓力的變化，然後用電容式傳感器來檢測，經過放大處理後指示出被測氣體濃度。除用電容式傳感器外，也可用直接檢測紅外線的量子式紅外線傳感器，並采用紅外乾涉濾光片進行波長選擇和配以可調激光器作光源，形成一種嶄新的全固體式紅外氣體檢測儀。