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HN9001地下管線探測儀
儀器特點
1) 便攜輕巧,使用方便,充電電池供電,一人即可操作,四項測試一次完成。
2) 數字化設計,軟件控製,性能穩定、可靠。
3)大屏液晶界麵,中文顯示,一看就懂,易學、易會。
4)所測信息以數字大小、光柵長短、聲音緩急三種方式提供給操作者,使測試過程輕鬆自如。
是德科技擁有豐富的產品係列,而且鼎力支持開放接口和體係結構,能夠為客戶提供廣泛的電子戰場景仿真解決方案,從單一測試台測試到場景仿真應有儘有。這款現代化的電子戰測試和評估解決方案具有出色的可擴展性,通過重新配置係統,能夠實現對射頻測試資產的利用。是德科技信息戰事業部總經理GregPatschke表示:“是德科技深知,我們的客戶需要強大的解決方案以便從容應對日新月異的電子戰環境。我們將繼續與客戶攜手合作,開發和交付能夠快速適應新環境的解決方案,幫助客戶提升實驗室的測試水平。
2.2 儀器組成
2.2.1 標準配置:發射機、接收機、充電器、直連線、地釺
2.2.2 選 件:大耦合鉗
在實際應用中測量的電阻電壓越低,熱電效應就越顯著。所以這個電壓的影響取決於具體的應用。用戶的硬件係統很少有能力能消除熱電動勢電壓,因為在用繼電器係統模擬電阻時就應該考慮到這一點。基於繼電器的高精度程控電阻模塊具有熱電動勢的是40-260,40-261,40-262,40-263和40-265。40-297係列具有低的熱電動勢,因為它使用的設計方法可以儘量的減少熱電效應,但是有更多的繼電器串聯。2.3 儀器參數
2.3.1 發射機
1)輸出信號:輸出四種頻率的正弦交流信號,分彆是低頻、中頻、高頻、射頻。
2)輸出功率:恒功率輸出,低、中、高三檔(不小於6瓦)。
3)輸出模式:直連法、耦合法、感應法。
4)阻抗顯示:99999歐以內。
5)負載匹配:1—10000歐。
6)顯示界麵:大屏液晶中文、圖形顯示,自帶背光。
7)電 源:標準1號1.2V充電電池6節,充放電500次。
8)待機時間:大於8小時,電量提示。
波形本質的圖解示波器帶寬的內涵奧林匹克的口號是“更快、更高、更強”,在示波器上的“更快”,則是對帶寬的要求。示波器中的模擬通道,簡化來看就是個低通濾波器。它對頻率越高的信號,衰減就越嚴重。一般會把信號功率衰減了-3dB時的頻率,定義為示波器的帶寬。當然,目前示波器的模擬技術發展神速,在示波器標定的帶寬頻率點時,會有一定的裕量,所以在示波器的帶寬頻率點,幅度的衰減是-3dB以內的。特彆說明的是,也是組成測量係統的重要一環,若測試中使用到,則必須考慮對帶寬的影響。
2.3.2 接收機
1)接收頻率:接收五種不同頻率的正弦交流信號,分彆是低頻、中頻、高頻、射頻、50HZ.
2)接收模式:波峰法(水平線圈)、 波穀法(豎直線圈)、 外接設備法(耦合鉗)。
3)信號界麵:數字大小、光柵長短、聲音緩急三種界麵同時提示信號強弱
4)顯示界麵:大屏液晶中文、圖形顯示,自帶背光。
5)增益控製:手動調節,動態範圍000——100db。
6) 探測長度:直連電纜時,長15KM。.
耦合電纜時,一次耦合可測3Km,多次耦合無限遠。
感應電纜時,一次感應可測300m,多次感應無限遠。
7)深度測量:直讀探測深度,範圍 000—250cm。
80%法測深度,範圍 000—250cm(感應)\500cm(直連)
8)電流測量:直讀電流,範圍000—999mA.
9) 探測精度:埋深的5%你也可在高速應用中關閉抖動功能,這樣就不用取平均值。16位數據采集板在設計正確時實際可以執行18位分辨率而無需抖動,通常16位板上的自然係統噪聲情況比較好,可返回多個測量值取平均。另一個經常被忽略的是溫度漂移誤差,計算機或台式測量儀器的溫度都會發生變動,計算機係統中的數據采集板一般工作在0到55℃溫度範圍,定製的電阻網絡和高精度元件可以幫助把溫度漂移維持在6ppm/℃以內。另外,數據采集板常常會調用一個自校正函數,將溫度漂移維持在更低的水平(約0.6ppm/℃)。
2.4 工作原理
本儀器是以電磁感應原理為基礎、以跨步電壓理論為依據,結合數字濾波 、無線接收、軟件控製而設計的高科技產品。
電磁感應:其基本工作原理是:由發射機產生電、磁波並通過不同的發射連接方式將發送信號傳送到地下被探測金屬管線上,地下金屬管線感應到電磁波後,在地下金屬管線表麵產生感應電流,感應電流就會沿著金屬管線向遠處傳播,在電流的傳播過程中,又會通過該地下金屬管線向地麵輻射出電磁波,這樣當地下管線探測儀接收機在地麵探測時,就會在地下金屬管線正上方的地麵接收到電磁波信號,通過接收到的信號強弱變化就能判彆地下金屬管線的位置和走向。
此原理實現的條件:,要有能發出足夠電能的信號源,在具備傳輸電能的線路中形成電流,電流在流動過程中又在該線周圍產生磁場;其次,要有能接收這一特定磁場的電路,把磁場的變化過程以電信號形式顯示出來。LED研發一LED光源半導體芯片發熱利用熱像儀,工程師可以根據得到的光源半導體芯片發熱紅外熱圖,出其芯片在工作時的溫度,以及溫度的分布情況,在此基礎,達到提高LED產品壽命的目的。二LED模塊驅動電路在LED產品研發中,需要工程師進行一部分驅動電路設計,整流器電路模塊。利用紅外熱像儀,工程師可以迅速而便捷地發現電路上溫度異常之處,便於完善電路設計。三光衰試驗LED產品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱,而現階段的LED大廠們做出的LED產品光衰程度都不相同,大功率LED同樣存在光衰,這和溫度有著直接的關係,主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決定的。