產品名稱：多脈衝電纜故障測試儀 HN300係列 電纜刺紮器現貨供應

HN300電纜故障測試儀 多脈衝電纜故障測試儀 HN300係列 電纜刺紮器現貨供應

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。在頻譜儀中，內部的微處理器可以改變中頻增益從而補償輸入衰減器的變化。所以當改變輸入衰減器時，儀輸入的信號在顯示器上的位置並不改變，隻是顯示的噪聲上下移動。這時參考電平保持不變。如下圖所示，當衰減從10dB增加到20dB，DANL上升而信號電平保持不變。的輸入衰減(0dB)將會獲得信噪比，但不幸的是此時的阻抗匹配也是差的，因此儘量避免0dB的設置。當被測信號遠大於噪聲電平時，可以設置為自動衰減。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏

儘管IEC60601-1第2版涵蓋了“基本性能”，不過第3版將其進一步詳細定義為“為避免不可接受的風險所必需的性能”。製造商負責確定性能或功能的喪失會導致可接受的風險還是不可接受的風險，具體通過確定事件發生的概率或頻率以及事件的嚴重程度來。如果設備的性能或功能喪失會對患者、操作人員或環境造成損害，則歸類為不可接受的風險。舉例來說，如果測量血糖水平的手持式電池供電儀表由於部件發生故障而停止工作，則這種情況是可接受的風險。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發生變化的地方（故障點），電脈衝將產生反射。測距主機將電脈衝的發射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節能狀態。如果檢測電阻在接地支路上，那麼方案就是個簡單的運放電路。一切都以地為參考，隻需特彆注意接地布局中的小電壓降就行了。但通常方法是將檢測電阻置於電源線中。為什麼？因為接地可能不可行（，通過底盤接地汽車電子產品），或者你可能不希望設備接地與供電接地不同（這可能導致接地環路和其它問題）。那麼，該怎麼做？顯而易見的方法是在檢測電阻兩端跨接一個差分或儀表放大器（inamp），但實際上這算不上好方法。為了準確檢測電流，通常需要極高的CMR（共模），既昂貴又容易漂移。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。TestCenter具有完全自主的知識產權。2012年，TestCenter入選國防科技工業百項先進工業技術研究推廣應用工程。如所示，為Testercenter的界麵，TestCenter可以在多個測試領域中被應用，包括消費類電子產品及裝備的電路板級、模塊級、係統級的功能測試與故障診斷。Testcenter界麵IEEE1232標準簡介故障診斷在裝備綜合保障中應用廣泛，為了規範測試診斷過程和實現診斷知識的共享，IEEE製訂了人工智能應用於係統測試與診斷領域的通用標準即IEEE1232標準，也稱作AI-ESTATE標準。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

很多人對直角走線都有這樣的理解，認為容易發射或接收電磁波，產生EMI，這也成為許多人認為不能直角走線的理由之一。然而很多實際測試的結果顯示，直角走線並不會比直線產生很明顯的EMI。也許目前的儀器性能，測試水平製約了測試的性，但至少說明了一個問題，直角走線的輻射已經小於儀器本身的測量誤差。總的說來，直角走線並不是想象中的那麼可怕。至少在GHz以下的應用中，其產生的任何諸如電容，反射，EMI等效應在TDR測試中幾乎體現不出來，高速PCB設計工程師的重點還是應該放在布局，電源/地設計，走線設計，過孔等其他方麵。