產品名稱：電纜外護套故障定位儀 HN300係列 一體化交直流高壓發生器生產廠家

HN300電纜故障測試儀 電纜外護套故障儀 HN300係列 一體化交直流高壓發生器生產廠家

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。智能傳感器的使用提高了機器人的機動性、適應性和智能化水平。人類的感受係統對感知外部世界信息是極其巧妙的，然而對於一些的信息，傳感器比人類的感受係統更有效。控製與驅動部分控製係統的任務是根據機器人的作業指令以及從傳感器反饋回來的信號，支配機器人的執行機構去完成規定的運動和功能。根據控製原理可分為程序控製係統、適應性控製係統和人工智能控製係統。根據控製運動的形式可分為點位控製和連續軌跡控製。驅動係統是向機械結構係統提供動力的裝置。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏

拿我們熟知的1G以下的無線收發模塊來看，大部分使用的平台都是基於TI(德州儀器)，SILABS(芯科)，SEMTECH(升特)等，此外還有AMICCOM(笙科)，AXSEM，NORDIC(北歐)，MICREL(麥瑞)，ADI(亞德諾)，MAXIM(美信)，ST(意法半導體)，FSL(飛思卡爾)，ATMEL(愛特梅爾)，MICROCHIP(微芯)，INFINEON(英飛淩)和個彆本土廠商等諸多產品可供選擇。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發生變化的地方（故障點），電脈衝將產生反射。測距主機將電脈衝的發射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節能狀態。事實上，它為熱量流向障礙物所占據的區域製造了一個障礙物，這個障礙物顯然在能源方麵是有成本的。家具或其他障礙物後麵的輻射係統基本上增加了係統在啟動和關閉期間的慣性。Sp1溫度23.8°C，Sp2溫度19.3°C，Sp3溫度22.2°C/2/3顯示了一個歧管，它為輻射供暖係統提供循環泵。Sp1點和Sp2點實際上幾乎處於相同的溫度，但設置相同的發射率值會導致錯誤的結論。實際上，Sp1已經應用了電子膠帶，它的發射率非常接近儀器設定的值。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。放置於室外的傳感器端子箱有可能受到雷電接觸放電；位於機房內的DCS機櫃有可能受到大樓立柱泄流時的空氣放電。信號線端口（含天饋線、數據線、控製線等）在控製係統中,為了實現信號或信息的傳遞總要有與外界連接的部位,如過程控製係統的信號交接端的總配線架、數據傳輸網的終端、微波設備到天線的饋線口等等，那麼這些從外界接收信號或發射信號出去的接口都有可能受到雷電浪湧衝擊。因為從樓外信號端口進來的浪湧往往通過長電纜，所以采用10/700μs波形，標準規定線到線間浪湧電壓為0.5kV，線到地間浪湧電壓為1kV。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

所述存儲所述第n個補償餘數具體包括：用第n個補償周期的補償餘數覆蓋第n-1個補償周期的補償餘數。一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準裝置，包括：溫度測量模塊，用於根據測量的RTC模塊的晶體溫度獲取時鐘校準所需的補償參數；控製模塊，用於根據所述補償參數和RTC模塊的補償單位計算補償校準值和補償餘數，並根據所述補償校準值和所述補償餘數對RTC模塊的時鐘頻率進行校準。所述控製模塊，具體用於在個補償周期中，按照所述補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，並將所述補償餘數存入存儲模塊；所述存儲模塊，用於存儲所述補償餘數。