產品名稱：二次脈衝電纜故障測試儀 HN300係列 帶電電纜識彆儀現貨供應

HN300電纜故障測試儀 二次脈衝電纜故障測試儀 HN300係列 帶電電纜識彆儀現貨供應

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。複雜係統的調試和驗證麵臨許多測試技術挑戰，包括捕獲和可視化多個不頻繁或間斷出現的事件，如串行數據包、激光脈衝和故障信號。為了準確測量和表征這些信號，必須在長時間內高采樣率捕獲它們。示波器的默認采集模式因為其有限的記錄長度會強製在采樣率和捕獲時間進行妥協。使用更高的采樣率可以更快地填充儀器的內存，減少數據采集的時間窗口。相反，捕獲長時間的數據通常是以犧牲水平時間分辨率(采樣率)為代價的。分段存儲架構FastFrameTM分段存儲允許將內存分割成多幀。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏

借助現場總線通信(HART、Profibus、FoundationFieldbus)，這些裝置能提供被測儀器的quot;健康狀態quot;信息，這種狀態信息可由資產監測器加以利用。這些資產監測器(如ABB的80OXA擴展自動化係統)可探測到有關儀器性能的下降，通知相應的人員開展進一步調查，並在適當的情況下提供補救措施。無論作為簡單的顯示或報警信息執行，或是作為完整控製係統的一部分，這些功能都可讓客戶主動對資產使用情況進行優化，而非被動對突發事件做出反應。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發生變化的地方（故障點），電脈衝將產生反射。測距主機將電脈衝的發射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節能狀態。其二，可以將隔離電源的輸入地與輸出地連接在一起變成非隔離，由於都是等電位，即不會出現打火拉弧現象。通過以上兩種方法，均可以確定是否是由於隔離電源輸入與輸出之間的走線間距問題導致打火拉弧。整改過程：通過確定是隔離電源輸入與輸出之間走線間距不足，共模浪湧導致兩端高壓差問題。為此將打火處的走線斷開，此處便不會再出現打火。同時如果其他地方有同樣的問題，在斷開前麵的打火處後，則共模路徑為轉移到下一個間距不夠的地方，因此需要將這些隔離間距都斷開，並滿足共模電壓間距要求。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。將信號端和參考地連接到示波器麵板上的參考輸出，然後按Autoset。如果使用鉤式前端附件，請將信號針前端牢固連接在上，確保正確連接。如組圖一所示：-1-2組圖一補償調節2.檢查所顯示波形的形狀。可能會出現的情況如圖二。圖二補償過度，不足和正確補償後半部的波形形狀示意過度和不足都需要調節。以能更好的測試準確值。如果波形不正確，請調整。如下圖三所示，直至波形為上麵的補償正確波形。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

而如果C的容值越小，對電路的影響也就越小。但限於目前的測試係統，C3和串聯後的電容值是幾個pF的級彆，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上，終會導致測量結果產生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設計對晶體頻偏的要30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀，配合近場測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。