產品名稱：電纜故障綜合測試儀 HN300係列 電纜試紮器（雙控、雙槍5年保修

HN300電纜故障測試儀 電纜故障綜合測試儀 HN300係列 電纜試紮器（雙控、雙槍5年保修

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。實時頻譜功能界麵顯示其中，熒光頻譜圖是基於頻譜統計的二維圖譜。在熒光頻譜圖中，橫軸代表頻率，縱軸代表幅度，像素點的色彩代表該頻率點的幅度統計次數，如所示。通過熒光頻譜圖和無縫瀑布圖對實現信號實現無丟失顯示，實時頻譜功能可以發現瞬態信號並顯示信號的實時變化。熒光頻譜原理示意圖熒光頻譜圖的應用熒光頻譜將一段時間內所統計的各個頻率及相應幅度出現的次數轉化為顏色，通過顏色揭示信號的概率。一般而言，熒光頻譜圖默認設置能夠滿足絕大數的信號顯示要求。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏

輸入電阻值應限製在10Ω以下。至少，選擇電容器以地匹配分流電阻器及其電感的時間常數；或者，選擇電容器以提供低於該點的極點。使輸入濾波器時間常數等於或大於並聯電阻及其電感時間常數：這簡化為基於使用10Ω電阻來確定每個RFILT的CFILT值：如果主要目的是濾除高頻噪聲，則應將電容器增加至提供所需濾波的值。，100kHz的濾波頻率需要一個80nF電容。該電容器可以有一個低額定電壓值，但應具有良好的高頻特性。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發生變化的地方（故障點），電脈衝將產生反射。測距主機將電脈衝的發射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節能狀態。電源作為電子產品或者電池的供電設備，除了性能要滿足供電產品的要求外，其自身的保護措施也非常重要。如過壓、過流、過功率、過溫保護等，過流保護點測試，也就是OCP測試。以前是手工去調整電流的大小，人工觀察現像。但是手和眼睛的反應速度等因素導致要進行多次測量才能確定。全天科技研發設計的可編程直流電子負載自帶OCP和OPP測試功能，很好的解決了此問題。在此菜單下使用者可以設置電流或功率開始值、結束值、步數、每步時間、並且還可以設定觸發電壓及規格上下限。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。接觸式的測試方法中測溫元件直接與被測介質接觸，直接測得被測物體的溫度，因而簡單、可靠、測量精度高。經常用到的如所示：.功能單一的測溫儀產品的溫升試驗也是安規要求的一個重要部分，那麼我們在設計一款產品時，如何實現經濟而且便捷的測量呢?開關電源中MOSFET和二極管會產生開關損耗以及傳導損耗、電感損耗包括線圈損耗和磁芯損耗、電容等造成的損耗，這些損耗終都以熱的形式展現出來，而過熱又會降低元器件性能導致損耗加劇，所以了解無用功率損失在哪裡很重要。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統計誤差來表示的，BX係列波長色散X射線熒光儀的穩定性和再現性，已足以保證待測樣品測量的精度，被樣品的製樣技術成為影響準確度的至關重要的因素，在樣品製備方麵所花的工夫將會反映在結果的質量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個方麵：1.采樣誤差：非均質材料樣品的代表性2.樣品的製備：製樣技術的穩定性產生均勻樣品的技術3.不適當的標樣：待測樣品是否在標樣的組成範圍內標樣元素測定值的準確度標樣與樣品的穩定性4.儀器誤差：計數的統計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現性5.不適當的定量數學模型：不正確的算法元素間的乾擾效應未經校正顆粒效應純物質的熒光強度隨顆粒的減小而增大，在多元素體係中，已經證明一些元素的強度與吸收和增應有關，這些效應可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。