產品名稱：電纜外護套故障定位儀 HN300係列 地下綜合管線探測儀5年保修

HN300電纜故障測試儀 電纜外護套故障儀 HN300係列 地下綜合管線探測儀5年保修

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。開關模式電源有三種常用電流檢測方法是：使用檢測電阻，使用MOSFETRDS(ON)，以及使用電感的直流電阻(DCR)。每種方法都有優點和缺點，選擇檢測方法時應予以考慮。檢測電阻電流傳感作為電流檢測元件的檢測電阻，產生的檢測誤差(通常在1%和5%之間)，溫度係數也非常低，約為100ppm/°C(0.01%)。在性能方麵，它提供精度的電源，有助於實現極為的電源限流功能，並且在多個電源並聯時，還有利於實現精密均流。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏

電阻式檢流電阻用電阻測量電流是一種直接方法，優點是簡單，線性度好。檢流電阻與被測電流放在一個電路裡，流經電阻的電流會使一小部分電能轉化為熱。這個能量轉換過程產生了電壓信號。除了簡單易用和線性度好的特點，檢流電阻的性價比也很好，溫度係數（TCR）穩定，可以達到100ppm/℃以下或0.01%/℃，不會受潛在的雪崩倍增或熱失控的影響。還有，低阻（小於1mΩ）的金屬合金檢流電阻的抗浪湧能力非常好，在出現短路和過流情況時，能實現可靠的保護。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發生變化的地方（故障點），電脈衝將產生反射。測距主機將電脈衝的發射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節能狀態。其中，L表示明度的差異，當L為正時表明其較樣品而言偏白，當L為負時，表明其較樣品而言較黑;a表示色調的差異，當a為正時表明其偏紅，當a為負時表明其偏綠;b表示彩度的差異，當b為正時表明其偏黃，當b為負時表明其偏藍。色差儀根據外觀形狀，有手持式、便攜式、台式之分;種類主要是三刺激值色差儀和分光光度計色差儀兩類。三刺激值色差儀就是我們通常所說的色差計，隻模擬人眼測試物體的紅、綠、藍三刺激數據，價格便宜，體積小，便於攜帶。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。當然這種方法也會更加準確一些，無論是找人，還是對中。後，人與人可以試試在一起，判斷彼此性格以及其他是不是合適，這個就與激光對中法非常接近了。激光對中法也需要數據，電腦進行運算，同樣，判斷對方是不是良人，也需要很多數據，用大腦去思考對錯。雖然在效率上冇有特彆的優勢，但是準確性十分高。同時呢，這樣的方法可以降低能耗，提高生產率；就像用心感受出來的人才能更幸福的走向未來。下麵是解開這個高大上的激光對中法。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

而如果C的容值越小，對電路的影響也就越小。但限於目前的測試係統，C3和串聯後的電容值是幾個pF的級彆，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上，終會導致測量結果產生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設計對晶體頻偏的要30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀，配合近場測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。