產品名稱：路燈（地埋）電纜綜合測試儀 HN300係列 輸電線路工頻參數測試儀30年經驗

HN300電纜故障測試儀 路燈（地埋）電纜綜合測試儀 HN300係列 輸電線路工頻參數測試儀30年經驗

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。遠端無法接收到數據——地電勢差存在許多實際應用中，通信距離可達幾千米，節點之間的距離很遠。設計者常常直接將每個節點的參考地接於本地的大地，作為信號的返回地，看似正常可靠的做法，卻存在的隱患。即使調試正常的係統，也可能在使用一段時間後出現問題。常常被忽略的問題是：兩個節點之間大地也可能存在很大的電勢差。。。實際的大地並不是理想的“0”電位，大地也是導體，也存在阻抗。當大的電流流過大地時，流過電流的大地兩端也會存在電勢差。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏

早毫米波雷達是24GHz的窄帶毫米波雷達，帶寬通常不到2MHZ，精度隻有75厘米，目標分離能力隻有1.5米，顯然這太低了，即便作為盲點檢測也有點低了。這之後出現了超寬帶24GHz毫米波雷達，帶寬達7GHz，精度可達2.2厘米。GHz矽基毫米波雷達技術正在實現新一代現實世界，越來越多地用於汽車、無人機、泛工業和消費類應用等大市場應用的非接觸式智能傳感器。ADI的新型24GHz雷達產品提供出色的性能和高集成度，是小尺寸、低成本且易用的超低功耗解決方案，適用於物理檢測、跟蹤、**控製和防撞警告係統等應用。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發生變化的地方（故障點），電脈衝將產生反射。測距主機將電脈衝的發射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節能狀態。在一些情況中，會出現抽點的間隔很大，使得實際用於的采樣率不足，這時係統會給出提示。非提示如所示，提示出現在屏幕左上方，從事件表可以看到，波形中間出現了部分錯誤的幀，這種錯誤是采樣率不足導致的。需要注意的時，出現這種提示時，不一定就會出錯，它是一種警告。而當我們真的不能正常時，隻需要按照係統提示的內容進行操作(如圖應該減少時基)，就能回歸狀態。這也是點中描述的全內存約束。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。潔淨室（或稱：無塵室、無塵車間、淨化車間）是指一個具有低汙染水平的環境，透過將密閉空間內空氣中的微塵粒子等汙染物排除，而得到一個相當潔淨的環境。空氣中的汙染物包括灰塵，微生物，懸浮顆粒，和化學揮發性氣體。潔淨室被廣泛地應用在對環境汙染特彆敏感的產業，半導體生產、生化技術、精密機械、製藥、、無菌食品加工製造業等，其中以半導體業對室內之溫濕度、潔淨度要求尤其嚴格，必須控製在某一個需求範圍內才不會對製程產生影響。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

先測試出可控矽的峰值電壓，將電線正負極連接至K兩極，接地線接至室內主接地上，逐漸升壓，測試其漏電流數值。進行漏電測試後，逐漸升壓，觀測漏電流，當數值超過其額定峰值電壓後，可控矽被擊穿，但采用此方法可能會破壞其PN結，並且隻能測試其是否導通，而不能測試其導通是否良好，故不再采用此法進行測試。搖表測試法用搖表對可控矽進行測量，參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控矽，改變搖表操作方法，即要對搖表電壓和轉速進行控製，兩筆端鏈接K極對其進行測試。