產品名稱：通信電纜故障綜合測試儀 HN300係列 地下管線定位儀5年保修

HN300電纜故障測試儀 通信電纜故障綜合測試儀 HN300係列 地下管線儀5年保修

 用於35kV及以下不同等級、不同截麵、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統電纜故障測試的低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界麵，子菜單方式和文字提示實現人機互動。CAN信號質量評估的相關概念CAN節點是通過差分信號進行通信的，信號質量的評估對象為CAN差分信號的波形。信號質量評估即對差分信號波形的幅值、斜率及擾動等元素按照一定的規則進行綜合評估，得到的質量評估結果，以百分比的形式呈現。信號質量評估參數圖如所示：信號質量評估參數圖無乾擾電壓範圍無乾擾電壓範圍是指待評估差分波形段中顯性位電平的值和隱性位電平的值之間的差值。峰峰值峰峰值是指波形中值和值的差值。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈衝法、衝擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈衝寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 衝擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業級10.4寸彩色觸摸液晶屏

接駁盒節點硬件結構所示為接駁盒電能分配節點的硬件結構框圖。係統采用兩個控製模塊進行電能的控製，采用三級控製策略對傳感設備、供電模塊進行通、斷控製。級彆是岸基工作人員通過監控中心向接駁盒內部ADAM4060進行控製命令的下達，ADAM4060控製模塊實現相應的操作，完成對傳感設備和供電模塊的控製。級彆是C8051F020主控模塊自主完成對傳感設備的控製，冇有人工的參與，在前期的C8051F020軟件設計中，設定相應采集電壓的閾值，在主控模塊工作中通過模擬外設ADC0進行傳感模塊電壓的采集，如果采集到的電壓不在閾值範圍之內則觸發P1口控製繼電器工作，進行斷開命令，防止電壓過大使設備損壞，同時向岸基發送相應的控製信息。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發射一電脈衝，電脈衝將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發生變化的地方（故障點），電脈衝將產生反射。測距主機將電脈衝的發射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節能狀態。微波暗室由電磁室、濾波與隔離、接地裝置、通風波導、室內配電係統、監控係統、吸波材料等部分組成。它是以吸波材料作為襯麵的房間，它可以吸收射到六個壁上的大部分電磁能量較好的模擬空間自由條件。暗室是天線設計公司都需要建造的測試設備，因為對於天線的測試比較而且比較係統，其測試指標可以用來衡量一個天線的性能的好與壞。主要是天線公司使用，但其造價昂貴。TEMCELL測TEMCELL測試天線有源指標，因為微波暗室和天線測試係統造價比較昂貴，一般要百萬以上，一般的設計和研發公司冇有這種設備，而用TEMCELL(也較三角錐)來代替測試。

② 充電端口：用於連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用於連接采樣線。測量滯後越大，熱電偶波動的振幅就越小，與實際爐溫的差彆也就越大。當用時間常數大的熱電偶測溫或控溫時，儀表顯示的溫度雖然波動很小，但實際爐溫的波動可能很大。為了準確的測量溫度，應當選擇時間常數小的熱電偶。時間常數與傳熱係數成反比，與熱電偶熱端的直徑、材料的密度及比熱成正比，如要減小時間常數，除增加傳熱係數以外，有效的辦法是儘量減小熱端的尺寸。使用中，通常采用導熱性能好的材料，管壁薄、內徑小的保護套管。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界麵介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈衝”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈衝”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈衝寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分彆為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈衝寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

燈具分布光度計是一種大型的精密光學測試設備，是燈具分布光度測量中必備的重要設備。傳統的分布光度計主要為機械式結構，通過機械控製旋轉測量整個三維空問的燈具光強分布。目前在發展中的這類傳統分布光度計主要有旋轉反光鏡式分布光度計。運動反光鏡式分布光度計和旋轉燈具式分布光度計等幾種結構形式℃IEl27一1997對LED的光學和電學測試進行了要求，也是采用傳統光度測量方法進行LED測試的依據。近年來，隨著CCD成像技術的發展與成熟，同時由於其可視化效果好，簡易方便，人們開始逐漸尋求采用成像技術來進行光度測量，目前已有可用於基於成像技術的亮度計，輔助傳統類型的亮度計。