產品詳情
  • 產品名稱:衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
  • 產品文檔:
你添加了1件商品 查看購物車
簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發生裝置
衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家產品簡介:

衝擊電壓發生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗,檢驗絕緣性能。衝擊電壓發生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質衝擊擊穿、放電等試驗中。

適用範圍:變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標準雷電衝擊,雷電截斷波,操作衝擊及用戶要求的非標準衝擊波的各類衝擊電壓試驗。一套設備就可產生多種試驗波形(標準的和非標準的波形,用戶提出來的波形)。 適用領域:質檢鑒定計量檢測監督機構,電力設備製造廠,鐵路通信,航天和航天飛行器,科研單位,大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗。電子元器件的降額等級可以參考《標準——元器件降額準則GJB/Z35-93》,一般可分成三個降額等級:Ⅰ級降額:I級降額是的降額,適用於設備故障將會危及**,導致任務失敗和造成嚴重經濟損失的情況。Ⅱ級降額:工作應力減小對元器件可靠性增長有明顯效益,適用於設備故障會使工作任務降級,或需支付不合理的維修費用。Ⅲ級降額:Ⅲ級降額是的降額,相對來說元器件成本也較低。適用於設備故障對工作任務的完成隻有小的影響,或可迅速、經濟地加以修複。

 

產品彆稱:衝擊電壓發生器,雷電衝擊電壓發生器試驗裝置,雷電衝擊電流發生器,電壓發生器試驗裝置

MOS管種類和結構MOSFET管是FET的一種(另一種是JFET),可以被製造成增強型或耗儘型,P溝道或N溝道共4種類型,但實際應用的隻有增強型的N溝道MOS管和增強型的P溝道MOS管,所以通常提到NMOS,或者PMOS指的就是這兩種。右圖是這兩種MOS管的符號。至於為什麼不使用耗儘型的MOS管,不建議刨根問底。對於這兩種增強型MOS管,比較常用的是NMOS。原因是導通電阻小且容易製造。所以開關電源和馬達驅動的應用中,一般都用NMOS。衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發生裝置產品特征

 

1、回路電感小,並采取帶阻濾波措施,在大電容量負載下能產生標準衝擊波,負載能力大。

 

2、電壓利用係數高,雷電波和操作波分彆不低於85%80%

 

3、調波方便,操作簡單,同步性能好,動作可靠。按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的範圍:2.7V-3.6V;不允許超出此範圍,否則,芯片在不穩定的電壓下工作會有比較大的風險,甚至會對卡片的正常工作帶來影響。需要考慮的是示波器的設置,究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限製?詳細的使用環境如下圖所示:如何去測試“高頻開關電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當做電源的源端,而通過後端的外圍模塊後在末端進行測試的時候,電源通過了一段PCB走線,包括一些芯片回路,應該存在高頻的噪聲,如果采用20MHZ的帶寬限製,實際上是將原本屬於模塊的噪聲給濾掉了,為此,我們進行了對比測試進行驗證:步,我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出,如下圖:通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的;通過測試,我們發現在源端測量的電壓值在3.4V(500MHZ帶寬測量)左右,峰峰值29mV,是非常穩定的供電;可以排除源端供電的問題,接下來,我們直接在通過整個模塊後在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量,如下圖:當我們在圖片上的點進行測試的時候,發現在高頻開關電源上有相當大的噪聲,使得電壓超出了規範要求的範圍,值達到了3.814V,峰峰值達854mV;但當我們將示波器設置為20MHZ帶寬的時候,高頻開關電源變的非常好,完全在供電要求的範圍內;正如在本文開頭描述的,在本次高頻開關電源測試過程中,已經不是高頻開關電源紋波測量,而應該是噪聲。衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家衝擊耐壓試驗裝置 HNCJ係列 超低頻耐壓試驗裝置生產廠家

 

4、采用恒流充電自動控製技術,自動化程度高,抗乾擾能力強。

 


姓名:
電話:
您的需求: