產品名稱：單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流係統綜合測試儀定製定做

HN1015A蓄電池充放電，活化測試儀 單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流係統綜合測試儀定製定做

本儀器是針對整組蓄電池係列測試，不同規格型號對整組要求不同，具體根據儀表為準。單體電池電壓為2V\12V（根據具體指標定）的鉛酸蓄電池組進行測試的儀器。

測試步驟介紹傳統的解決方案是加TVS管，但它有比較大的體積和相對高的重量等缺點。那麼ADI是怎麼解決的呢?Lorry解答到：“我們考慮SurgeStopper，通過反饋和MOSFET控製把瞬間脈衝的乾擾電源尖峰部分消掉，確保輸出電壓在我們設定的標準範圍之內，車身係統係統會更加**。再結合可控的電源工藝，車身係統就不會因為意外的乾擾造成組件損壞。”：可替代TVS和絲的浪湧器方案。激光雷達、普通雷達、相關測量測控單元是未來自動駕駛非常核心和關鍵的平台。

1.4.1在線監測測試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見章節2.4）

步：把整組電壓測試線連接到電池組兩端。（詳見章節2.5）

步：插入電源，主機開機。

第四步：進入在線監測參數設置。(詳見章節3.1）

第五步：“確定”開始測試。

1.4.2 放電測試：在本文中，我們將回顧以前發布的技術，這些技術通過偏移LO頻率並以數字方式補償此偏移，強製雜散信號去相關。已知雜散去相關方法在相控陣中，用於強製雜散去相關的方法問世已有些時日。已知的份文獻1可以追溯到2002年，該文描述了用於確保接收器雜散不相關的一種通用方法。在這種方法中，先以已知方式，修改從接收器到接收器的信號。然後，接收器的非線性分量使信號失真。在接收器輸出端，將剛才在接收器中引入的修改反轉。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節2.4）。純負載不具此功能

步：放電開關，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負）。接反會告警提示。（詳見章節2.5）

第四步：把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開關撥到合的位置)，主機開機。

第六步：進入放電參數設置。(詳見章節3.2）

第七步：將放電開關撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開始測試。

1.4.3容量快測（選配功能）半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節2.4）。

步：放電開關，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負）。接反會告警提示。（詳見章節2.5）

第四步：把整組電壓測試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機開機。

第六步：進入容量快測參數設置。(詳見章節3.3）

第七步：將放電開關撥到合的位置。

第八步：“確定”開始測試。今天為大家介紹一項授權——一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準方法及裝置。該由電網公司申請，並於2018年8月31日獲得授權公告。本涉及電力儀器儀表技術領域，特彆涉及一種應用在電能表中RTC（Real-TimeClock，實時時鐘）模塊的補償校準方法及裝置。對於大多數對時間度要求較高的係統來說，RTC模塊式的實時時鐘生成模塊，它可以為芯片提供地實時時鐘。RTC模塊一般會外掛晶體，根據晶體的固有振蕩頻率輸出時鐘信號，其結構比較簡單，成本較低。單體蓄電池充放電測試儀 HN1016B 直流係統綜合測試儀定製定做