產品名稱：青島華能供應 低效高法電壓互感器現場測試儀 用心品質

青島華能供應 低效高法電壓互感器現場測試儀 用心品質HN10A互感器特性綜合測試儀

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等. 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值係數、儀表保安係數、二次時間常數、剩磁係數、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數的測量.WLP(WaferLevelPackaging)：晶圓級封裝，是一種以BGA為基礎經過改進和提高的CSP，直接在晶圓上進行大多數或是的封裝測試程序，之後再進行切割製成單顆組件的方式。上述封裝方式中，係統級封裝和晶圓級封裝是當前受到熱捧的兩種方式。係統級封裝因涉及到材料、工藝、電路、器件、半導體、封裝及測試等技術，在技術發展的過程中對以上領域都將起到帶動作用促進電子製造產業進步。晶圓級封裝可分為扇入型和扇出型，IC製造領域巨頭台積電能夠拿下蘋果A10訂單，其開發的集成扇出型封裝技術功不可冇。

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值係數（ALF）、 儀表保安係數（FS）、 二次時間常數(Ts)、剩磁係數(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數。另外，重心法需要使用至少兩根譜線，而且受窗函數主瓣寬度限製，頻率重心法所能支持的頻率下限隻能達到頻率分辨率的三倍以上。由於頻率重心法冇有反饋過程，不依賴於信號，模擬電路實現簡單，理論上隻要采樣率和使用的數據點足夠，就能得到正確的結果。特彆地，因為同步采樣需要硬件電路，受限與成本與體積，大部分測量儀器隻支持一到兩個PLL源，而頻率重心法無此限製，甚至可任意定義基波源（對應於PLL源，用於確定基波）。應用實例PA功率儀提供了三種諧波模式：常規諧波、諧波和IEC諧波。

具體接線步驟和說明如下：

斷開電力線與CT一次側的連接，未接地的電力線較長，會給CT一次側的測量引入較大乾擾，參見圖3.4。

將CT一次側一端連接至CTPT儀CT一次側/PT二次側黑色端子將CT一次側另一端連接至CTPT儀CT一次側/PT二次側紅色端子將CTPT儀的接地柱連接到保護地PE將按照圖3.3所示，斷開被測CT二次側和二次負荷的連接在對變比值相同的多繞組電流互感器進行CT或CT比差角差測試時，冇有測試的二次繞組應短接，否則測試誤差將會偏大保護10P10，平麵低通濾波器簡介隨著現在微波鏈路越來越高頻化，小型化，直接在鏈路中集成低通的現象越來越普遍。同時很多芯片化的低通也大都是在高介電陶瓷片上實現的微帶濾波器。陶瓷片型的芯片電容，電感，均衡器都需要用到平麵低通的設計概念。常見的低通濾波器在ADS中的模型及結構形式見。常見的平麵結構低通濾波器三種結構的優缺點對比見表1，通常對要求比較高的設計時可綜合三種結構的優缺點進行折中設計。表1三種結構優缺點對比2.平麵低通濾波器設計的理論基礎本次總結的理論基礎來源，核心理論為的高低阻抗線等效電路。暫態TPY三個繞組的2000/1的CT，進行0.5級繞組的比差角差測量時應按照圖3因為探測器口的位置及擋板的設置是固定的，而不同的反射分布直接表現為信號起伏。在普通的測量係統中，不同的正向發散角的LE同一LED不同的放置方向、同一方向不同位置等差異，即使光通量是一致，表現出來的測量值也表現出的差。根據客戶的驗證結果，普通LED測量係統LED的放置方向對光通量測量結果的影響往往超過50%(這一點尤其在國產設備上表現特彆明顯)。在測量不同LED不同發光角度時，由於在積分球內表麵的分布差異使得直接反射的分布對探測器的影響也不同，從而直接影響到兩者測量的準確性的差異。.4.1進行接線具體接線步驟和說明如下：將CTPT儀的接地柱連接到保護地PE將按照圖3.6所示，斷開PT二次側和二次回路的連接將CTPT儀功率輸出和CT二次側/PT一次側的黑色端子連接至二次負荷的一端，參見圖3.6將CTPT功率輸出和CT二次側/PT一次側的紅色端子連接至二次負荷的另一端為了消除接觸電阻的影響，在連接CTPT儀的端子時，CT二次側/PT一次側的連接端子應保持在功率輸出端子的內側OTA測試可以將產品內部輻射乾擾、產品結構、天線的因素、射頻芯片收發算法等因素考慮進去，是非常接近產品實際使用場景的測試手段。我們以早的3GUESISOOTA測試為例來了解OTA測試所需的基本環境：吸波暗室，轉盤（控製UE旋轉）天線（在某一固置接收UE輻射信號）用於提供天線虛擬信號的無線測試平台（如KeysightUXM係列，圖中未顯示）測量過程中將通過旋轉轉台來控製並測量UE天線在不同方向的輻射特性。青島華能供應 低效高法電壓互感器現場測試儀 用心品質