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  • 產品名稱：青島華能供應 絕緣電阻表校準儀 試驗方法

  • 產品型號：HNDL
  • 產品廠商：華能
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簡單介紹：
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。青島華能供應 絕緣電阻表校準儀 試驗方法
詳情介紹：

HN8000兆歐表檢定裝置


青島華能供應 絕緣電阻表校準儀 試驗方法HN8000型兆歐表檢定裝置是根據JJG622-1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》，JJG 1005-2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》，DL/T 979-2005 《直流高壓高阻箱檢定規程》之要求設計製造的新型絕緣電阻表檢定裝置，其測試電壓可達10000V。各項指標均符合規程的要求。它不僅能檢定型號、不同規格的國產、進口絕緣電阻表（兆歐表），而且可用作高阻計的檢定。很多測試項目(乘用車路試)很難重複進行，因此對數據保存的可靠性提出了更高的要求。橫河的SMARTDAC+係列采集器，采用本地存儲設計，儀器內置非易失性大內存，按照時間間隔(保存周期)分割保存到內存的數據文件，會同時自動保存至外部SD存儲卡從而實現數據的雙重備份。將數據保存至SD存儲卡時，如果SD卡的可用空間不足，儀器會按照數據的更新時間刪除早的文件，然後保存新文件。該功能稱為FIFO(先進先出)，可以被手動關閉。

2.5 結構

    采用十進製步進序列，高阻部分和低阻部分分開的分體式結構，其中高阻部分采用密封式鑄鋁機箱，電阻輸出範圍109~1012Ω，低阻部分采用半封閉式鐵皮機箱，電阻輸出範圍102~109Ω；端電壓測量範圍100V~10kV。

2.6  兆歐表檢定裝置未列指標均符合高阻箱檢定規程之要求。

2.7  體積、重量：618×290×130（mm）、20kg圓鋼的生產往往伴隨著高溫、粉塵、氧化鐵皮等。四路測徑儀成功克服了以上問題，實現高質量的在線測量，本文介紹的四路測徑儀是大直徑的圓鋼測徑儀，其測頭采用鋁合金製造，散熱性能良好。在高壓離心風機持續為測徑儀送風的工作條件下，可以保證測頭內光電元件處於正常工作溫度範圍內。LPBJ15.12型測徑儀內共設置八路7單測頭和四路由7單測頭組合的15雙測頭。其中7單測頭的測量範圍為～7mm，用於測量直徑φ1～φ45mm的軋材；雙測頭的測量範圍為2～15mm，用於測量直徑φ46～φ11mm的軋材。

青島華能供應 絕緣電阻表校準儀 試驗方法

使用方法

5.1 使用前的準備

檢查裝置中各開關能否正常旋轉，端電壓表能否正常顯示。

5.2  數字式兆歐表電阻測量功能的檢定

5.2.1 按圖4要求接線（同名端相接）。

5.2.2選擇全檢量程調節旋鈕直接輸出對應標準電阻值，記錄數字式兆歐表的讀數，依據公式算出相對誤差：

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數值的相對誤差，%；

Rx —— 被檢兆歐表電阻讀數值，Ω；

Rn —— 檢定裝置電阻標稱值，Ω。

雖然企業采取“殺敵一千自傷八百”的低價策略，大幅度蠶食了廉價儀器的市場，卻始終無法打破廠商對儀器形成的壟斷之勢。比如，如何將5M示波器的存儲深度做到512M？如何將5M示波器的刷新率做到1M？大數據存儲存儲深度可以形象地比喻成一個容器，容器的容量大小決定了能夠裝入多少物體，也即能存儲多少數據量的波形，若存儲深度足夠，則能以高采樣率捕獲長時間波形，若存儲深度不足，則隻能通過降低采樣率的方式來捕獲長時間波形。青島華能供應 絕緣電阻表校準儀 試驗方法

5.3  指針式兆歐表電阻測量功能的檢定

    

5.3.1 按圖5要求接線（同名端相接）。

5.3.2 按兆歐表中的被檢分度值預置高阻箱的電阻值。

5.3.3 啟動恒轉速源（轉速設定在120轉/分，若需其它轉速，按增、減速鍵即可）。

5.3.4 調節高阻箱的電阻值，使得兆歐表指針與被檢分度線重合，高阻箱示值即為被檢分度值對應的實測值，依據公式(2)算出誤差：

                       

式中：δ —— 被檢兆歐表電阻讀數值的相對誤差，%；

Rx —— 被檢兆歐表電阻分度線數值，Ω；

Rn —— 被檢分度線數值對應的實測值，Ω。

5.3.5 按同樣方法順序檢定每個標有數值的分度線。

5.3.6本裝置由低阻部分和高阻部分組合而成，當被檢兆歐表分度值大於1GΩ時，需將高阻部分與低阻部分接連使用，其連線方式如下圖： 

紅外攝像機因為無損檢測使用的紅外攝像機要以高靈敏度捕捉瞬變現象，因此需要有高時間分辨率的高幀速率。每個像素的空間分辨率由與紅外攝像機一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測大型目標和精細區域，要使用高像素的紅外攝像機。2.光激發無損檢測-光學增強方法的基本原理為光激發無損檢測裝置概圖。該方法分為所示的脈衝熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈衝熱成像的基本原理脈衝熱成像方法通過瞬間燈光激發使測量對象出現溫度上升,在溫度下降的過程中，通過圖像顯示正常位置和缺陷位置出現的溫度變化和時間相位滯後。

7.1  該檢定裝置應在乾燥、無腐蝕氣體、無陽光直射、無強磁場乾擾、溫度在23℃±5℃、相對濕度≤75%的環境中使用。

7.2  如因存放、使用不善，使得該裝置受潮，出現乾燥劑變色，除更換乾燥劑外，還需用小於50℃的乾燥熱風對裝置內部（特彆是高阻值部分）進行去濕處理後方能保證該裝置的正常使用。

7.3  檢定裝置若長時間未使用，在再次使用前應將電阻調節開關從頭至尾轉動數次，保證其接觸良好。按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的範圍：2.7V-3.6V；不允許超出此範圍，否則，芯片在不穩定的電壓下工作會有比較大的風險，甚至會對卡片的正常工作帶來影響。需要考慮的是示波器的設置，究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限製？詳細的使用環境如下圖所示：如何去測試“高頻開關電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當做電源的源端，而通過後端的外圍模塊後在末端進行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限製，實際上是將原本屬於模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進行了對比測試進行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發現在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊後在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當我們在圖片上的點進行測試的時候，發現在高頻開關電源上有相當大的噪聲，使得電壓超出了規範要求的範圍，值達到了3.814V，峰峰值達854mV；但當我們將示波器設置為20MHZ帶寬的時候，高頻開關電源變的非常好，完全在供電要求的範圍內；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關電源測試過程中，已經不是高頻開關電源紋波測量，而應該是噪聲。青島華能供應 絕緣電阻表校準儀 試驗方法青島華能供應 絕緣電阻表校準儀 試驗方法

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