產品名稱：青島華能供應 電測儀表檢定裝置 售後完善

HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 青島華能供應 電測儀表檢定裝置 售後完善

本裝置是按照檢定規程JJG126－95《交流電量變換為直流電量電工測量變送器檢定規程》、JJG124－2005《電流表、電壓表、功率表和電阻表檢定規程》、JJG307-2006《機電式電能表檢定規程》的要求而設計的三相0.05級表源裝置。可自動或手動檢驗電力係統中工頻電表（電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數表、相位表）、單相交流電能表（選項）、三相交流電能表（選項）以及直流電壓、電流表的基本誤差。三芯同軸電纜用來把SMU連接到開關矩陣上，再從開關矩陣連接到DUT。顯示了典型的電路圖，其中兩個SMU使用遠程傳感連接開關矩陣。使用遠程傳感(4線測量)而不是本地傳感(2線測量)，要求每個SMU連接兩條電纜，由於電纜是平行的，所以這會使SMU輸出的電容提高一倍。.通過707B開關矩陣把SMU連接到DUT的簡化示意圖在這種情況下，SMU使用2m電纜連接到開關矩陣的行(輸入)上；開關矩陣的列(輸出)使用5m電纜連接到配線架上。
 技術參數：

交流電壓量程：57.7V，100V，220V，380V，500V 每檔輸出容量： 20VA；

      交流電流量程：0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 大輸出容量 20VA；

      交流電壓、電流調節範圍：0～123%， 調節細度 5×10－5；

      工頻交流電壓、電流、有功功率準確度：0.05% FS；

      無功功率的準確度：0.1% FS；半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

      電流對相電壓的相位準確度：0.050；

      頻　率　　調節範圍：45～65HZ， 調節細度 0.001HZ，調定值準確度 5×10－5；

      相　位　　調節範圍：0～359.990，調節細度 0.010；

      交流電壓、電流輸出波形失真度：≤0.3%；

      交流電壓、電流及功率輸出穩定度： ≤0.01% FS/100s；

      諧波2～21次，幅度0～20%，次諧波相位細度0.010·N（N為諧波次數）；

      直流電壓量程：75、150、300、500V，每檔輸出容量100mA；

      直流電流量程：0.5、1、2.5、5、10、20A ，大輸出容量20VA；

     青島華能供應 電測儀表檢定裝置 售後完善當波形捕獲出來後很多工程師覺得波形占屏幕2格就可以很清晰了，冇必要將波形調到鋪滿屏幕格子去看。其實這是一個誤區，今天我們就來看看為什麼要讓波形鋪滿示波器屏幕的格子。2格顯示和儘量滿格顯示明顯的就是，波形被“拉長”了，也就是垂直檔位變小了，而垂直檔位的變化直接影響了垂直測量的準確性。這其中重要就是示波器8位ADC與垂直量測量的關係。尺子測量就比如用1米尺子和用10厘米的尺子去量1.6cm的物件，米尺可能量出來的就是2cm，或很難去估算，而10厘米的尺子量出來的就是1.6cm。