產品名稱：青島華能專業定製 溫升試驗設備 定製定做

HNWDL-8000溫升三相大電流發生器 青島華能專業定製 溫升試驗設備 定製定做

又稱：大電流溫升試驗設備，大電流溫升試驗係統，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發生器主要用於母線槽，開關，開關櫃和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內置高配置工控機，采用可編程控製器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進行實時掃描,實現監測和閉環控製，並設計設置管理，隻有獲得相應操作權限的人員，才能進行某些功能的操作。從特性來說，PCA82C250/251在高速波特率下過衝很嚴重，在進行CE認證時通不過認證標準，而TJA1040/1050的電磁輻射就小的多，可以通過CE認證。因為世界上CAN的需求量增大，TI公司、Freescale公司、美信公司、Microhip公司紛紛推出了自己的高速CAN。本文對NXP的新舊兩類，以及SN65HVD251(TI公司生產)和MC33901(Freescale公司生產)進行對比測試。

2）進口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業平板電腦操作，采用支持現場總線技術的智能型傳感器，實現數據傳送的全數字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界麵清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，隻需設置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩流係統，配有4個USB口，輕鬆U盤、打印機等多種設備。並以通過鼠標接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與後台計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現數據和溫度曲線打印；遠端無法接收到數據——地電勢差存在許多實際應用中，通信距離可達幾千米，節點之間的距離很遠。設計者常常直接將每個節點的參考地接於本地的大地，作為信號的返回地，看似正常可靠的做法，卻存在的隱患。即使調試正常的係統，也可能在使用一段時間後出現問題。常常被忽略的問題是：兩個節點之間大地也可能存在很大的電勢差。。。實際的大地並不是理想的“0”電位，大地也是導體，也存在阻抗。當大的電流流過大地時，流過電流的大地兩端也會存在電勢差。

4）隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試、電流和步長，省去手動調壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結束後把數據讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護功能。交流調壓裝置保護應采用微機自動保護控製和機械微動限位開關雙重保護，確保恒流電源正常工作，提高產品的**性、可靠性。

且檢測精度，工作穩定性和使用壽命都有很高的要求，因此直插式氧很難采用傳統氧化鋯氧的整體氧化鋯管狀結構，而多采取技術要求較高的氧化鋯和氧化鋁管連接的結構。密封性能是這種氧化鋯氧的關鍵技術之一。目前上進的連接方式，是將氧化鋯與氧化鋁管的焊接在一起，其密封性能，與采樣式檢測方式比，直插式檢測有顯而易見的優點：氧化鋯直接接觸氣體，檢測精度高，反應速度快，維護量較小。當測量煙氣溫度高於700℃時，傳感器組成中省去加熱器和測溫熱電偶。

主要技術指標：電流值由客戶根據需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉換
	電流	AC  0-8000A連續可調   準度：0.5
	穩流準度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護及告裝置 非測試狀態電壓為零，電流為零

青島華能專業定製 溫升試驗設備 定製定做半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。