產品名稱：青島華能專業定製 電纜熱循環裝置 生產廠家

HNWDL-8000溫升三相大電流發生器 青島華能專業定製 電纜熱循環裝置 生產廠家

又稱：大電流溫升試驗設備，大電流溫升試驗係統，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發生器主要用於母線槽，開關，開關櫃和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內置高配置工控機，采用可編程控製器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進行實時掃描,實現監測和閉環控製，並設計設置管理，隻有獲得相應操作權限的人員，才能進行某些功能的操作。一直以來，工程師關注的一個重點就是波形的穩定性。然而在對波形的長時間監控中，突發的數據乾擾往往難以捕捉，就成為了許多工程師的心頭之患。本文介紹幾種實用功能，協助工程師們快速異常數據的位置。查看波形是電子測量儀器常用的一個功能。為了確保波形是否穩定運行，工程師們往往需要對觀測信號進行長時間的采樣檢測，本文介紹ZDL6示波記錄儀常用的3種波形異常檢測功能，可以通過這3種功能迅速到異常數據的發生位置，大大提高測試效率。

2）進口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業平板電腦操作，采用支持現場總線技術的智能型傳感器，實現數據傳送的全數字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界麵清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，隻需設置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩流係統，配有4個USB口，輕鬆U盤、打印機等多種設備。並以通過鼠標接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與後台計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現數據和溫度曲線打印；Simplelink傳感器控製器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動模式、待機模式和啟動耗能階段均隻消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控製器包括模擬和數字外圍設備，它們專為實現超低功率而進行了優化。利用這些外圍設備和2MHz時鐘模式，使得該控製器非常適合感應式測量應用，從而實現超低功率：，基於感應式測量原則，可以在100Hz時達到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請參閱流量表應用示例，閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。

4）隻需設置好目標電流即可，無需人工監控，僅需設定測試、電流和步長，省去手動調壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結束後把數據讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護功能。交流調壓裝置保護應采用微機自動保護控製和機械微動限位開關雙重保護，確保恒流電源正常工作，提高產品的**性、可靠性。

Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用於修複部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控製器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見於成本敏感性產品中，但也在低級任務中用作小型協處理器，以減輕主處理器的負擔，從而提升效率。另一方麵FPGA也正在朝著類似的目標前進，雖然是從另一個方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創建片上係統。

主要技術指標：電流值由客戶根據需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉換
	電流	AC  0-8000A連續可調   準度：0.5
	穩流準度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護及告裝置 非測試狀態電壓為零，電流為零

青島華能專業定製 電纜熱循環裝置 生產廠家半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。