產品名稱：青島華能生產三路配電箱溫升試驗裝置 廠家直供

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 青島華能生產三路配電箱溫升試驗裝置 廠家直供 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

兩種額定電流的解釋1.HeatingCurrent功率電感在DC-DC電路中，電流經過時，會消耗一定的功率（銅耗Copperloss+磁耗Coreloss），消耗功率會導致電感的溫度上升，電感一般工作溫度有一定範圍，比如WE的電感允許的operatingtemperature:-40°C-+125°C，ambienttemperature:-40°C-+85°C。為了電感可以在一定的溫度範圍內正常工作，電感廠商會給出一個"基於電感溫度上升的額定電流"即HeatingCurrent，這個參數的限定值是根據電流在電感上的熱效應定義的，在大部分公司的電感的手冊裡，以Idc（直流電流）來表示這個電流。

具備供電電源三相輸入電壓、輸入電流顯示功能

具備試驗過程記錄功能（持續記錄輸出電壓、輸出電流相關數據）

具備試驗結果自動計算功能

具備傳輸後編輯報告生成功能

具備全自動測試與手動測試兩種方法，全自動測試時隻需簡單設置試驗電流、時間、記錄步長即可，帶自動穩流係統。係統跟蹤目標電流，自動調整、平衡三相輸出電壓、電流，並可自動記錄電流、電壓數據，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）