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  • 产品名称：微型互感器校验仪 微型互感器误差检定装置 变频式互感器测试仪

  • 产品型号：HN10A
  • 产品厂商：华能
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简单介绍：
CT励磁/直阻/变比/极性/角差/比差试验,接CT二次侧; PT变比/极性/角差/比差试验,接被测PT一次侧(高压侧); PT励磁/直阻试验时,接被测PT二次绕组(低压侧)微型互感器校验仪 微型互感器误差检定装置 变频式互感器测试仪
详情介绍：

半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。为确定半导体范德堡法电阻率和霍尔电压，进行电气测量时需要一个电流源和一个电压表。为自动进行测量，一般会使用一个可编程开关，把电流源和电压表切换到样本的所有侧。A-SCS参数仪拥有4个源测量单元(SMUs)和4个前置放大器(用于高电阻测量)，可以自动进行这些测量，而不需可编程开关。

HN17A极速互感器检定装置 

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该装置由HN17A极速互感器校验仪、电流负载箱、控制柜、电流互感器测试台等几个部分组成。在保持原技术特点的前提下，在电流互感器的快速测量、测试点的快速、以及负荷箱、变比的互感器覆盖等方面有了很大的提高。

智能技术让监控设备具备自主感知、图像识别、深度学习能力，将安防监控的事后取证延伸到事前预警、事中快速处置、事后海量数据的证据链的检索等，从而程度提升监控的效率。在红外摄像机上加入智能功能，限度的解放了人力，目前它不仅实现对事件结果的和融合应用，还可以形成对事件内在发展规律的结果输出，辅助科学决策，快速解决实际的问题。为了将热成像与人工智能进行结合，扩充热成像技术的延展性，FLIR将其世界的长波红外(LWIR)技术和Movidius行业的视觉处理单元(VPU)集成到一个热成像内核中，使其能够在低功耗下进行先进的图像处理，为其热成像产品带来人工智能。微型互感器校验仪 微型互感器误差检定装置 变频式互感器测试仪

 主要特点     

1、该互感器检定装置细调节采用了程控源技术，使测试点的更加快速、准确。

2、该互感器检定装置在多只电流互感器测量速度方面有了质的提高，在3-5分钟的时间里可测量十二只任何变比的电流互感器。

3、极速互感器检定装置配置了1A、5A的标准电流互感器，电流负荷箱配置了1A、5A负载值2.5VA-80VA，电压负载箱配置了100V、100/1.732负载值从1.25VA-158.75VA基本上可满足用户的要求。负载箱在测量时可进行自动切换。

 4、此互感器检定装置可进行互感器的规程和非规程的测量，测量时用户可对任何百分点的测量。

有没有一个曝光时间能够**涵盖一个场景的温度变化，并测量该场景的所有冷热物体？没有，但有另一个选项。解决方案：FLIR超帧技术FLIR超帧技术指的是，在一个快速的连续时间内，以逐渐加快的曝光时间拍摄一组4幅具有代表性的场景图像（子帧），然后重复这个循环。每次循环的子帧被合并为一个超帧，如我们所知，这个超帧结合了曝光时间不同的4个子帧的特性。这一过程称为叠加。采用这种方式，叠加算法生成的超帧图像对比度高，温度范围广。微型互感器校验仪 微型互感器误差检定装置 变频式互感器测试仪技术参数

2、测量范围：
   同相分量（%）：0.0001~200.0       分辨率：0.0001
   正交分量（分）：0.001~700.0       分辨率：0.001
   阻抗（W）：0.0001~20.0         分辨率：0.0001
   导纳（ms）：0.0001~20.0        分辨率：0.0001

20世纪80年始，非制冷红外焦平面阵列探测器在美国支持下发展起来的，在1992年研发完成后才对布。初期技术路线包括德州仪器研制的BST热释电探测器和霍尼韦尔研制的氧化钒（VOx）微测辐射热计探测器。后来由于热释电技术本身的一些局限性，微测辐射热计探测器逐渐胜出。2009年，L-3公司终宣布停止继续生产热释电探测器。之后，法国的CEA/LETI以及德州仪器公司又分别研制了非晶硅（a-Si）微测辐射热计探测器。微型互感器校验仪 微型互感器误差检定装置 变频式互感器测试仪

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