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利用激发光源发出的特征发射光照射一定浓度的待测元素的原子蒸气,使之产生原子荧光,在一定条件下,荧光强度与被测溶液中待测元素的浓度关系遵循Lambert-Beer定律,通过测定荧光的强度即可求出待测样品中该元素的含量。原子荧光光谱法具有原子吸收和原子发射两种方法的优势,并且克服了这两种方法在某些地方的不足。该法的优点是灵敏度高,目前已有20多种元素的检出限优于原子吸收光谱法和原子发射光谱法;谱线简单;在低浓度时校准曲线的线性范围宽达3~5个数量级,特别是用做激发光源时更佳,但其存在荧光淬灭效应,散射光干扰等问题。
HN10A互感器特性综合测试仪华能 电流互感器测试仪 HN10A变频式互感器仪 可定制
功能简介:
测试互感器:PT、CT(保护类、计量类)、伏安特性(励磁特性)曲线、自动给出点值、自动给出5%和10%的误差曲线、变比测量、比差测量、相位(角差)测量、极性判断、一次通流测试、交流耐压测试、二次负荷测试、二次绕组测试、铁心退磁等设计的多功能现场试验仪器。
技术参数:
1、工作电源:AC220V±10% 、50Hz
2、设备输出:0~2500Vrms, 5Arms(20A峰值)
3、大电流输出:0~1000A
4、二次绕组电阻测量范围:0.1~50Ω
5、二次绕组电阻测量准度:≤0.5%、分辨力0.01
6、二次实际负荷测量范围:5~300VA
7、二次实际负荷测量准度:≤0.5%±0.1VA工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后,对设计进行更改,很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行的验证。借助扫描系统,电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题,从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。EMI近场辐射特性:SSCG示例某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。
软件使用说明
11.1 将配套光盘放入计算机光驱中,解压“软件”至C盘根目录。
11.2,安装“wic_x86_chs.exe”文件,其次,安装“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”软件,默认安装地址即可。
11.3安装完毕后,打开“伏安特性”文件夹,选择打开“VATeXing.exe”操作软件,如图38即为上位机操作软件。
11.4在“VATeXing.exe”操作软件中,下方选择互感器种类“CT”或“PT”,应用语言“中文”或“英文”。
11.5如需生成报告格式文件,必须载入试验结果数据,具体操作方法如下:
a)、将存储试验数据的U盘连接至计算机。
b)、在图38中选择打开“选择文件”,出现图39操作窗口,在图39中可根据需要载入所需文件。
c)、试验结果数据说明:以“A”为开头的数据为励磁特性结果数据,以“B”为开头的数据为变比极性结果数据,以“C”为开头的数据为负荷结果数据,以“D”为开头的数据为直阻结果数据。以“E”为开头的数据为角差比差结果数据,以“T”为开头的数据为暂态结果数据。
11.6 载入数据结束后,选择“确定”出现图40界面,在此界面右上方设置相应参数后,选择“生成误差曲线”则完成所有试验结果的载入。
11.7 载入完成后,可根据需要选择“保存”或打印结果数据。
11.8 选择“保存”选项,则以WORD的形式显示结果如图41。
11.9 如需继续加载试验结果数据,请先上次载入的数据。
HN12A变频式互感器综合仪(CT/PT仪)
功能简介:
1 励磁特性试验
2 变比试验
3 相位和极性试验
4 CT一次电流及负荷时的比差、角差测量
5 CT二次绕组电阻测量
6 CT二次回路负荷测量
7 CT暂态特性测试与
8 CT升流试验
9 测量校核型号的CT、PT,包括保护CT、计量CT、TP级暂态CT、励磁饱和电压达到40KV的CT、变压器套管CT、各电压级PT等.
10 点电压/电流、10%(5%)误差曲线、准确限值系数、仪表保安系数、二次时间常数、剩磁系数、准确级、饱和和不饱和电感等CT、PT参数的测量.
自动给出点电压/电流、 10%误差曲线、 5%误差曲线、准确限值系数(ALF)、 仪表保安系数(FS)、 二次时间常数(Ts)、剩磁系数(Kr)、准确级、饱和和不饱和电感等参数。
技术参数:
输出电压:0~180V (RMS)
■ 输出电流:0~12A,峰值36A
■ 电压测量:准确度 ±0.1%
■ CT变比测量范围:1~30000
■ PT变比测量范围:1~30000华能 电流互感器测试仪 HN10A变频式互感器仪 可定制红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。被测物体和反射源的辐射线经调制器解调后输入到红外检测器。两信号的差值经反放大器放大并控制反馈源的温度,使反馈源的光谱辐射亮度和物体的光谱辐射亮度一样。显示器指示出被测物体亮度温度。红外测温仪所测的温度是物体的辐射温度而不是物体的实际温度,由于黑体是不存在的,在同一温度下实际物体热辐射总量总比黑体辐射总量小,所以红外线测温仪测出的温度肯定应小于物体的真实温度。