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光纤通信是用光纤作为传输介质，以光波作为载波来实现信息传输，从而达到通信目的的一种新通信技术。与传统的电气通信相比，光纤传感技术具有精度和灵敏度高、抗电磁干扰、寿命长、耐腐蚀、成本低、光纤传输损耗极低，传输距离远等突出优点。虽然光纤通信具有以上突出的优点，但本身存在的缺陷也不容忽视，比如：光纤的质地脆，容易断裂、机械强度差，弯曲不能过小;供电困难;分路、耦合不灵活；光纤的切断和连接需要特定的工具或设备等。
HN10A互感器特性综合测试仪变频式互感器测试仪 电容式互感器校验仪 全自动互感器校验仪
功能简介：
测试互感器：PT、CT（保护类、计量类）、伏安特性（励磁特性）曲线、自动给出点值、自动给出5%和10%的误差曲线、变比测量、比差测量、相位（角差）测量、极性判断、一次通流测试、交流耐压测试、二次负荷测试、二次绕组测试、铁心退磁等设计的多功能现场试验仪器。
技术参数：
1、工作电源：AC220V±10% 、50Hz
2、设备输出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）
3、大电流输出：0～1000A
4、二次绕组电阻测量范围：0.1～50Ω
5、二次绕组电阻测量准度：≤0.5%、分辨力0.01
6、二次实际负荷测量范围：5～300VA
7、二次实际负荷测量准度：≤0.5%±0.1VA因为传统的线缆如BNC或SMA线缆本身是可导电的而且容易受到来自于干扰室内部的电磁波的影响，因此光发送和接收单元以及光纤需要被用来将干扰室内部的ECU发出的信号传送到位于干扰室外部的测试设备。光纤是非导体所以不会受到干扰室内的电磁场的影响。为了将线缆从干扰室内部连接到测试设备上，在干扰室边界处波导管被用来输出光信号，从而允许干扰室在将ECU的信号输出时仍旧保持完全的封闭。光纤波导拥有一个高通截止频率，该频率高于在干扰室中测试的频率范围，因此不会对干扰室中所创造的环境产生干扰。
软件使用说明
11.1 将配套光盘放入计算机光驱中，解压“软件”至C盘根目录。
11.2，安装“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安装“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”软件，默认安装地址即可。
11.3安装完毕后，打开“伏安特性”文件夹，选择打开“VATeXing.exe”操作软件，如图38即为上位机操作软件。
11.4在“VATeXing.exe”操作软件中，下方选择互感器种类“CT”或“PT”，应用语言“中文”或“英文”。
11.5如需生成报告格式文件，必须载入试验结果数据，具体操作方法如下：
a）、将存储试验数据的U盘连接至计算机。
b）、在图38中选择打开“选择文件”，出现图39操作窗口，在图39中可根据需要载入所需文件。
c）、试验结果数据说明：以“A”为开头的数据为励磁特性结果数据，以“B”为开头的数据为变比极性结果数据，以“C”为开头的数据为负荷结果数据，以“D”为开头的数据为直阻结果数据。以“E”为开头的数据为角差比差结果数据，以“T”为开头的数据为暂态结果数据。
11.6 载入数据结束后，选择“确定”出现图40界面，在此界面右上方设置相应参数后，选择“生成误差曲线”则完成所有试验结果的载入。
11.7 载入完成后，可根据需要选择“保存”或打印结果数据。
11.8 选择“保存”选项，则以WORD的形式显示结果如图41。
11.9 如需继续加载试验结果数据，请先上次载入的数据。
HN12A变频式互感器综合仪（CT/PT仪）
功能简介：
1 励磁特性试验
2 变比试验
3 相位和极性试验
4 CT一次电流及负荷时的比差、角差测量
5 CT二次绕组电阻测量
6 CT二次回路负荷测量
7 CT暂态特性测试与
8 CT升流试验
9 测量校核型号的CT、PT，包括保护CT、计量CT、TP级暂态CT、励磁饱和电压达到40KV的CT、变压器套管CT、各电压级PT等.
10 点电压/电流、10%(5%)误差曲线、准确限值系数、仪表保安系数、二次时间常数、剩磁系数、准确级、饱和和不饱和电感等CT、PT参数的测量.
自动给出点电压/电流、 10％误差曲线、 5％误差曲线、准确限值系数（ALF）、 仪表保安系数（FS）、 二次时间常数(Ts)、剩磁系数(Kr)、准确级、饱和和不饱和电感等参数。
技术参数：
输出电压：0~180V (RMS)
■ 输出电流：0~12A，峰值36A
■ 电压测量：准确度 ±0.1%
■ CT变比测量范围：1~30000
■ PT变比测量范围：1~30000变频式互感器测试仪 电容式互感器校验仪 全自动互感器校验仪一般来说，直流电源具有CV/CC两种工作模式，分别对应内部两个环路(CV控制环和CC控制环)。当今市场上的大多数电源供应器均采用电压优先模式设计，不能提供电流环控制优先模式；事实上这种情况非常普遍，大多数工程师甚至从来没有意识到还有优先模式存在，他们只是期望自己的电源能够正常提供电压电流和功率输出。但随着电子测试需求的变革，这种方式的局限性也体现出来，CV控制环优先的情况下，虽然一定程度上可以加快电压的上升速度，但不能够适用于对电流过冲测试要求严苛的场合。