产品名称：HN7030型 油介质损耗测试仪 变压器直流电阻测试仪 操作视频

基于同样的原因，在电源测量中也应该尽量使用1：1的而不是示波器标配的10：1的。否则示波器的噪声也会被放大。带来的噪声是在在衰减器前面耦合进来的，因此无论衰减比设置多少，贡献的噪声都是一定的。在某些不正确的使用方法下，可能会带来额外的噪声，一个典型的例子就是使用长地线。为了方便测试，示波器的的无源通常会使用10cm左右的鳄鱼夹形式的长地线，但是这对于电源纹波的测试却是不适用的，特别是板上存在开关电源的场合。
HN7030A变压器绝缘油介质损耗测试仪

用于绝缘油等液体绝缘介质的介质损耗因数和直流电阻率的测量，内部集成了介损油杯、温控仪、温度传感器、介损测试电桥、交流试验电源、标准电容器、高阻计、直流高压源等主要部件。，该仪器应用先进的测控技术,全自动完成升温、控温、高速数据采样、运算、显示、打印及存储等过程.

技术指标

测 量 范 围： 电容量       5pF～200pF
              相对电容率   1.000～30.000
              介质损耗因数 0.00001～100
直流电阻率    2.5 MΩm～20 TΩm
测 量 准 度： 电容量       ±(1%读数+0.5pF)
              相对电容率   ±1%读数
              介质损耗因数 ±(1%读数+0.0001)
              直流电阻率   ±10%读数
分  辨   率： 电容量       0.01pF
              相对电容率   0.001
              介质损耗因数 0.00001
测  温 范 围： 0～125℃
温度测量误差： ±0.5℃
交流实验电压： 500～2200V  连续可调，频率50Hz
直流试验电压： 0～500V     连续可调HN7030型 油介质损耗测试仪 变压器直流电阻测试仪 操作Wasson表示对于TI毫米波雷达来说更有意义的是，其应用的快速扩展已经远远超越了常规的ADAS功能。，其毫米波传感器内置的数字处理功能可以过滤噪音，使TI的雷达芯片可以探测非常微小的运动，甚至是人或动物的呼吸，以判断车内是否有人或动物的存在。Wasson提到“儿童乘坐探测”，很可能将进入欧洲NCAP（新车评价规程）发展规划。他相信这将为TI雷达传感器在车身、传动和车厢内的应用打开大门。Tier1和OEM制造商正在寻求合适的传感技术来实现这类探测，而雷达传感器在这方面优势更明显。

感谢您选择了绝缘油介质损耗及体积电阻率测试仪！为方便您尽早尽快地熟练操作本仪器，我们特随机配备了内容详实的操作手册，从中您可以获取有关产品介绍、使用方法、仪器性能以及**注意事项等诸多方面的信息。

在次使用仪器之前，请务必仔细阅读本操作手册，并按本手册对仪器进行操作和维护，这会有助于您更好的使用该产品，并且可以延长该仪器的使用寿命。

在编写本手册时，虽然我们本着科学和严谨的态度进行了工作，并认为本手册中所提供的信息是正确和可靠的。然而，智者千虑必有一失，本手册也难免会有错误和疏漏之处。如果您发现了手册中的错误，请务必于百忙之中抽时间，尽快设法告知我们，并烦请监督我们迅速改正错误！本公司全体职员将不胜感激！仪器结构的不同气体检测仪结构较简单，只包括(传感器)及传感器信号转换电路部分。而气体仪不仅在内部装有(传感器)而且还有一整套气路系统，即将样气引入到仪器内部，并且再引出仪器放空或回收的全套气路系统。气体仪检测方式不同气体检测报警仪利用直接暴露在被测的空气中或样气环境中进行检测。而气体仪是将被测气体(样气)通过方式引入到仪器内部进行测定，然后再引出仪器外放空。气体检测仪对测定条件的控制方式不同气体检测报警仪不设有样气工艺技术条件的调整及控制部分，同时也完全不考虑样气存在的环境条件，直接进行检测。

本公司保留对仪器使用功能进行改进的权力，如发现仪器在使用过程中其功能与操作手册介绍的不一致，请以仪器的实际功能为准。我们希望本仪器能使您的工作变得轻松、愉快，愿您在繁忙的工作之中体会到办公自动化的轻松而美好的感觉！半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

注意事项

1.遵守高压试验**工作规程。

2.因仪器内部有高压及高温，在工作过程中，禁止打开油杯罩。

3.仪器在使用过程中要可靠接地。

4.要注意仪器使用环境的清洁。

5.油杯安装和清洗应严格按规定进行，否则将造成油杯放电，致使仪器无法正常工作。

6.管损坏，必须更换相同规格管。时间交错技术可使用多个相同的ADC（文中虽然仅讨论了ADC，但所有原理同样适用于DAC的时间交错特性），并以比每一个单数据转换器工作采样速率更高的速率来处理常规采样数据序列。简单说来，时间交错（IL）由时间多路复用M个相同的ADC并联阵列组成。如图1所示。这样可以得到更高的净采样速率fs（采样周期Ts=1/fs），哪怕阵列中的每一个ADC实际上以较低的速率进行采样（和转换），即fs/M。举例而言，通过交错四个10位/100MSPSADC，理论上可以实现10位/400MSPSADC。