产品名称：HN60异频介质损耗测试仪 华能高压介质损耗测量仪 配电网电容电流测试仪

检测器的发展经历了圆形，半圆形和扇形几个阶段。是否使用完全的米氏理论因为米氏光散理论非常复杂，数据处理量大，所以有些厂家忽略颗粒本身折光和吸收等光学性质，采用近似的米氏理论，造成适用范围受限制，漏检几率增大等问题。准确性和重复性指标越高越好。采用NIST标准粒子检测。稳定性仪器稳定性包括光路的稳定性和分散系统的稳定性和周围环境的影响。一般来讲选用气体器，使用光学平台，有助于光路的稳定。内部发热部件（如50瓦的钨灯）将影响光路周围环境。
HN6000A四通道变频抗干扰高压介质损耗测试仪  HN60异频介质损耗测试仪 华能高压介质损耗测量仪 配电网电容电流测试仪

   该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接地的高压电器设备。可以测量电容式电压互感器的tg及主电容C1、C2电容量。适用于电力行业中变压器、互感器、套管、电容器、避雷器等设备的介损测量。

抗干扰介损自动测试仪 技术参数
    1、准确度：
    Cx: ±（读数×1%+1pF）
    tg: ±（读数×1%+0.00040）
    2、抗干扰指标： 变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度
    3、电容量范围：
    内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高压： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效数字
    4、tg范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。
    5、试验电流范围：10μA～1A
    6、内施高压： 
    设定电压范围：0.5～10kV
    输出电流：200mA
    升降压方式： 连续平滑调节
    试验频率：
    45、50、55、60、65Hz单频     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频其中半导体器件(包括：半导体分立器件、集成电路等)大多数是辐射敏感器件，辐射环境对这些器件的性能会产生不同程度的影响，甚至使其失效。针对辐射效应，在器件的材料、电路设计、结构设计、工艺制造及封装等各个环节采取加固措施，使其具有一定的抗辐射性能。选择抗辐射加固的器件应用在空间辐射环境中，将能提高航天器的可靠性和使用寿命;应用在战略中，将能提高其效能和突防能力。空间辐射环境对电子器件主要产生电离辐射总剂量(TID)效应和单粒子效应(SEE);核辐射环境尤其是核环境，主要产生瞬时电离辐射总剂量效应、中子辐射效应和电磁脉冲损伤效应。
    频率准度： ±0.01Hz
    7、外施高压：
    正接线时试验电流1A，工频或变频40-70Hz
    反接线时试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz
    8、CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30AHN60异频介质损耗测试仪 华能高压介质损耗测量仪 配电网电容电流测试仪单端器件但随着先进的MMIC集成电路的出现，越来越多的射频电路开始使用差分平衡形式来设计。计算机、服务器中背板的差分平衡时钟速率已到达上百吉比特每秒，速率如此之高也必须按照射频和微波器件来考虑。平衡器件平衡器件的输入或输出都是两端口的。平衡器件所传输的信号是两个端口之间电平的差值或平均值，输入的两端口或输出的两个端口之间互为参考，而不是以地为参考，如所示。理想情况下，当差分平衡器件的输入端加上幅度相等、相位相差18度的差模信号时，输出端得到的也是差模信号，这种工作模式称为“差模/差模”模式。