产品名称：三相电容电感测试仪 介质损耗测试仪 变压器特性参数测试仪 大量供应

截至216年9月1日，该承认已经发生了35起事故。的毁坏程度极高，几乎整块屏幕都被烧焦，严重程度可以威胁到用户的人身**。这一事故，也引起了对锂离子电池**性的热烈讨论。低端产能严重过剩，产品事故频频发生，锂离子电池的**已经成为了我们不容忽视的问题。为了锂离子电池行业的持续发展，如何确保锂离子电池的**，成了目前整个行业为关心的问题。艾德克斯电子从用户的实际需求出发，推出了IT51系列电池内阻测试仪，帮助用户从产品设计、生产制造、测试检验等多个方面确保锂离子电池的**。
HN7031A全自动三相电容电感测试仪三相电容电感测试仪 介质损耗测试仪 变压器特性参数测试仪 大量供应

自动三相电容电感测试仪 可以在不拆线的状态下，直接测量成组并联电容器的单相电容或组合连接类型的三相电容器，也能够测量电抗器的电感，接线简单，测试、记录方便，大大提高了工作效率。

功能特点
    1、内部自带电驰，自动数字合成产生三相大功率测试电源，不用外接电源即可使用；
    2、仪器可在不拆线情况下测量成组并联电容器的单个单相电容及测量连接类型的三相电容；
    3、可三相同测或测量三只并联电容器或电抗器；
    4、仪器可以测量电抗器的电感量；
    5、仪器可以测量工频电流的幅值以及电流中2－32次的谐波含量；
    6、仪器可显示出在测量电容器或电抗器的过程中测量的电压、电流、功率、相位角、阻抗等数据，以便更好的问题所在；

LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想办法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想办法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。
HN7033A自动电容电流测试仪

直接从PT的二次侧测量配电网的电容电流，与传统的测试方法相比，该仪器无需和一次侧打交道，因而不存在试验的性，无需做繁杂的安措施和等待冗长的调度命令，只需将测量线接于PT的开口三角端就可以测量出电容电流的数据。

自动电容电流测试仪 技术参数
    1、测量范围：对地总电容 ≤120μF（三相对地）
       电容电流 ≤500A（35kv系统 ）
       电容电流 ≤200A（10kv系统 ）
    2、测量精度：0.5μF～5μF   ±10%±50个字
                 5μF～90μF    ±5%
                 90μF～120μF  ±10%三相电容电感测试仪 介质损耗测试仪 变压器特性参数测试仪 大量供应在这方面，罗德与施瓦茨充分发挥业界的技术实力，为RSQPS201设计了两面固态矩阵面板，内含数千个收发天线，构成一套高精度的双面测量系统。测量过程中，每个天线仅工作一瞬间，仪器在几十毫秒内完成的信号探测工作。由于RSQPS201的天线数量和规模远超业界同类产品，可以获得更高信噪比的信号，利于后续程序计算识别可疑物。图2毫米波收发矩阵示意图在信号处理和可疑物识别方面，RSQPS201使用业界的数据处理加速器，将海量的信号数据加速处理，使得仪器对信号具有极高的合成运算速度。